彭祥飞,江浩,邓林.基于GaN技术的大功率T/R组件可靠性设计与分析[J].装备环境工程,2020,17(12):115-118. PENG Xiang-fei,JIANG Hao,DENG Lin.Reliable Design and Analysis of High Power T/R Module Based on GaN Technology[J].Equipment Environmental Engineering,2020,17(12):115-118.
基于GaN技术的大功率T/R组件可靠性设计与分析
Reliable Design and Analysis of High Power T/R Module Based on GaN Technology
投稿时间:2020-07-07  修订日期:2020-09-04
DOI:10.7643/issn.1672-9242.2020.12.018
中文关键词:  T/R组件  GaN芯片  高可靠性  电路设计  热设计
英文关键词:T/R module  GaN MMIC  high reliability  circuit design  thermal design
基金项目:国防科工局技术基础科研项目(JSZL2016210B001)
作者单位
彭祥飞 中国电子科技集团公司第29研究所,成都 610036 
江浩 中国电子科技集团公司第29研究所,成都 610036 
邓林 中国电子科技集团公司第29研究所,成都 610036 
AuthorInstitution
PENG Xiang-fei No. 29 Research Institute of CETC, Chengdu 610036, China 
JIANG Hao No. 29 Research Institute of CETC, Chengdu 610036, China 
DENG Lin No. 29 Research Institute of CETC, Chengdu 610036, China 
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中文摘要:
      结合T/R组件的工作原理,对影响大功率T/R组件可靠性的关键技术进行了设计与分析。通过与现有的基于GaAs技术的T/R组件设计电路对比分析,阐述了基于GaN技术的大功率、高可靠性T/R组件的电路设计方法。
英文摘要:
      Combined with the working principle of T/R module, the key technologies affecting the reliability of high-power T/R module were designed and analyzed. Compared with the existing T/R module design circuit based on GaAs technology, the circuit design method of high power and high reliability T/R module based on GaN technology was described.
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