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半导体器件失效案例统计与综合分析 总被引:2,自引:0,他引:2
电子元器件是电子产品最基本的组成部分,而半导体器件通常又是关键与核心器件;半导体器件失效数占电子元器件总失效数的一半以上。本文针对半导体器件的失效案例进行筛选、汇总,按照失效类别、失效模式和失效原因进行分类统计,并对统计数据进行分析;其结果可以为从事元器件质量管理、元器件研制、采购和整机设计人员在元器件研制、采购、试验、选用和使用等全过程控制半导体器件失效提供重要的参考数据。 相似文献
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电子元器件标志涂层的耐溶剂性尚未引起国内有关生产厂的重视.为制订“电工电子产品耐清洗溶剂清洗试验方法”国标,对国内生产的一些电子元器件进行了清洗试验.文章报导了试验结果. 相似文献
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