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产品的工作环境是影响产品可靠性的关键因素之一。任何一种产品都处在一定的环境之中,同时要在一定的环境中贮存、运输和使用,因此其使用可靠性与这些环境因素密切相关。产品的环境适应性从产品的设计、研发、生产就已经定好了,而产品耐环境则是通过相关标准规范进行试验而得出的,只有通过环境考核的产品,其使用可靠性才能得到保障。本文首先介绍不同环境应力对产品的影响以及会引发何种失效模式;随后介绍,如何获得产品的使用环境;最后说明为保证产品的环境适应性以及可靠性,如何选择标准以及不同标准对产品的环境适应性的考核要求。通过对产品工作环境的影响分析及标准的测试方法及要求,为产品进行环境适应性试验设计提供参考。 相似文献
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近些年来,关于电子元器件的失效分析已逐渐发展成为一个专门的学科,作为专门的模拟集成电路设计、生产单位,在分析仪器、设备有限的条件下,通过失效分析发现产品设计、测试、以及生产制造过程中存在的问题,以不断改进产品的设计水平和制造工艺,提高产品的可靠性。通过对某中频控制器在用户处表现出来的低温下通断比异常的情况进行分析,发现该产品的设计存在的问题,文中不仅给出了失效机理,同时提出了改进措施。此次失效分析对于同类中频控制器的设计、提高其可靠性具有一定的借鉴意义。 相似文献
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可靠性强化试验在某产品上的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
首先介绍可靠性强化试验的基本概念和产品情况,接下来分析了可靠性强化试验的流程、敏感环境应力及试验剖面的设计。介绍了某产品的可靠性强化试验,对试验结果进行分析,并提出了改进建议。最后对可靠性强化试验的相关问题进行总结和展望。 相似文献
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本文简单介绍环境适应性和可靠性的一般概念,分析环境试验和可靠性试验的基本特点、在产品研制各阶段中的作用及其主要区别,指出环境试验和可靠性试验均为提高产品质量和可靠性的重要手段,环境试验是可靠性试验的必要补充,但可靠性试验不能取代环境试验。环境试验必将作为一个十分有效的手段独立存在,并应在产品的研制过程中尽早使用,为更有效地提高产品的可靠性发挥其应有的作用。 相似文献
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本文通过典型失效案例介绍,结合光耦器件结构及工艺制程的特点,分析了器件本身缺陷引起光耦失效的机理。另一方面,结合光耦应用电路的特点,对外部电应力引起光耦失效的原因也进行了详细阐述。 相似文献
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钽电解电容器常见的失效模式为短路、开路、电参数超差。本文通过介绍典型失效案例,对以上三种失效模式进行了系统的总结,对造成钽电解电容器失效的原因与机理进行了详细的阐述,在此基础上,有针对性的提出了避免钽电解电容器装机使用后失效的有效措施。 相似文献
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TVS管是一种常见的浪涌抑制器件,但如果使用不当容易损坏。本文从大量的调查研究中,选取几个典型的TVS管失效案例,详细分析失效原因,并将这些原因进行总结,提出有效的整改办法。 相似文献
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介绍LED产品常见的失效分析手段,主要包含外观检查、电性能测试、X-Ray透视检查、开封检查、金相切片分析、扫描电镜和能谱分析等手段,并结合实际案例对几种方法进行描述。 相似文献
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可靠性工程技术中的众多工作项目需要建立在失效机理的基础上。了解和应用失效机理是改进产品可靠性的核心工作之一,在产品可靠性工程中被广泛应用。本文澄清了相关的基本概念,并且分析了失效机理在产品可靠性预计、寿命评估、故障模式及失效机理分析、可靠性试验以及失效分析方面的应用。 相似文献