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71.
为探究香溪河在受倒灌影响较弱的河段水华暴发征兆及机理,于水华高发期5~8月对香溪河进行监测,分析电导率、水温、叶绿素a(Chl-a)以及流速.结果表明,在6~8月,香溪河倒灌现象于XX05点(峡口镇)处基本结束,XX06~XX09受倒灌来水影响较弱;香溪河于7月暴发水华,各个监测点位上Chl-a含量均值达到100μg/L以上,XX05~XX06与XX07-XX09点位上暴发不同种水华;在水华暴发前后,水体温度无显著变化,且并无明显分层现象,说明水温分层是水华暴发的主要原因这一理论并不能很好的适用于非回水区;通过对电导率数值的研究发现,数值在垂向上出现显著拐点,而拐点出现在临界层与光补偿层之间,同时与叶绿素a含量分布呈现显著负相关性.香溪河总氮(TN)、总磷(TP)平均值为1.849mg/L和0.157mg/L,均超过富营养化的阈值,水体氮磷含量与Chl-a浓度无显著相关性,水体中除N、P营养盐外的其它离子对香溪河水华的暴发起着重要作用.在水华消退后,电导率数值又逐渐恢复表层高底层低的垂向线性分布特性,与水华的暴发、消退有着明显的响应. 相似文献
72.
分析讨论了安徽铜陵水木冲S和SP剖面尾矿砂的理化指标、硫形态变化和硫酸根硫同位素组成与分布特征.结果显示:S和SP剖面整体呈酸性,pH值为2.59~6.12和3.50~6.27,由下而上有明显的降低趋势;Eh随剖面由下至上明显升高,范围为66~457和-37~307mV;酸可挥发性硫(AVS)含量为0~62.36和0~3.44mg/g,黄铁矿硫(CRS)含量为0.70~32.30mg/g和0.17~5.39mg/g;AVS与CRS的变化趋势基本一致,随剖面自下而上减少,且AVS先于CRS被氧化.2个剖面元素硫(ES)含量为0~8.83和0~3.62mg/g,随深度变化无明显规律.硫酸根硫(SO42--S)含量为8.44~66.34和8.48~29.87mg/g,自下而上呈降低趋势,且分别在剖面的氢氧化物薄膜层(11.5~16.5cm和18~54cm)出现高值区.2个剖面总硫(TS)含量为9.18~109.69和12.38~37.72mg/g,表层由于淋滤含量较低,底层变化则不大.位于斜坡上的SP剖面TS及各形态硫含量均低于S剖面,表明淋滤对硫含量影响更明显.硫酸根硫同位素δ34S为-3.32‰~13.43‰和-3.08‰~1.80‰,S-9硫酸根δ34S为13.43‰,指示其来自于伴生硬石膏,其余层位δ34S偏负且变幅较小,指示其硫酸根主要来源于硫化物的氧化. 相似文献
73.
74.
75.
本文结合京珠高速公路广珠段某软基试验资料 ,运用有限层分析法对某断面沉降作出了理论预测与分析。经与实地观测数据对照 ,效果良好。表明该方法能够较合理地模拟土体的应力应变过程。 相似文献
76.
77.
恶臭假单胞菌Pseudomonas putida 5-x细胞壁膜系统的Cu2+吸附性能 总被引:5,自引:0,他引:5
对1株从电镀废水中分离出的革兰氏阴性菌恶臭假单胞菌P.putida 5-x的细胞表面组分对Cu2+的吸附性能进行了分析研究.结果表明,分离的P.putida 5-x细胞壁膜的Cu2+吸附容量是完整细胞的5倍之多.细胞表面组分如肽聚糖层、细胞外膜和细胞内膜在P.putida 5-x细胞壁膜的Cu2+吸附过程中都发挥了作用.肽聚糖层、细胞外膜和内膜在P.putida 5-x细胞壁膜中的含量依次为细胞内膜>外膜>肽聚糖层,而它们的Cu2+吸附容量的大小依次为肽聚糖层>外膜>内膜.在P.putida 5-x细胞壁膜对Cu2+的吸附过程中,肽聚糖层贡献了不到15%的吸附容量,而细胞外膜和内膜分别贡献了30%~35%和25%~30%.P.putida 5-x细胞外膜中的磷脂含量明显比其它报道的革兰氏阴性细菌的细胞外膜高,这可能是P.putida 5-x细胞外膜具有较高Cu2+吸附容量的主要原因,并由此导致P.putida 5-x细胞壁膜的高Cu2+吸附容量. 相似文献
78.
贾志学 《安全.健康和环境》2004,4(9):11-13
介绍了管道防腐层失效的原因和方式,指出水和氧气是防腐层失效的原因,含水量和含氧量决定腐蚀程度,提出对防腐层及时检查与修复等措施. 相似文献
79.
黄连华 《中国特种设备安全》2012,(10):20-21
1电梯层门结构和技术要求
乘客电梯的层门一般由门扇、门滑轮、门导靴、层门地坎、门导轮架、层门自动关闭装置、门锁等部件组成。门扇由门滑轮悬挂在门导轮架上,门扇的下部通过门导靴与层门地坎配合,并通过轿门上的门刀推动层门装置启闭。水平滑动的电梯层门门扇之间的连接方式分为直接机械连接和间接机械连接。直接机械连接指门扇之间用杠杆、连杆等刚性机械部件直接连接,间接机械连接指用钢丝绳、皮带或链条等柔性机械部件连接门扇。如图1为日常广泛使用的间接机械连接的层门结构示意图。 相似文献
80.
氧化石墨烯(Graphene oxide, GO)表面具有丰富的官能团和较高的比表面积,能够作为膜材料应用于膜分离技术.然而,目前合成GO的技术很难保证其横向尺寸的均一性.此外,GO在自然水环境中分散性的稳定性受环境中pH值和离子强度的影响.本文研究了横向尺寸、pH值和离子强度对GO表面双电层电荷或结构组装所需的相互作用力的影响.从原位原子力显微镜(Atomic force microscope, AFM)获得的力-距离曲线(F-D)可以看出,溶液条件对DLVO力的作用.GO的双电层静电斥力随着pH值的升高而增大,这可能是由于表面官能团的电离作用增强所致.但随着离子强度的增加,双电层斥力减小,得到的数据与DLVO理论一致.通过Zeta电位和开尔文探针力显微镜(Kelvin probe force microscopy, KPFM)测量,确定了氧化石墨烯片层表面电荷的不均匀性. 相似文献