1/f噪声源与其在半导体器件可靠性评估中的应用

1／f噪声，由于其能够反映器件的质量与可靠性参数，其研究受到重视。本文首先较为系统地介绍了1／f噪声源两种较为成熟的理论：迁移率涨落模型和载流子涨落模型，最后介绍了几个1／f噪声与半导体器件参数漂移相关的实例。     

开关电源模块可靠性的研究

本文分析了某军用开关电源模块的工作原理以及关键点波形,找出了开关电源模块中易于失效的关键元件,提出了目前开关电源发展所面临的可靠性寿命评价的关键问题。     

掘进面多级气相压裂卸压抽采防突研究*

为解决煤层赋存条件复杂、煤体渗透率低、部分区域突出易发性高等问题,提出运用多级气相压裂的方案在阳泉矿区新元矿31004工作面辅助回风巷与进风巷进行压裂试验,以考察其卸压增透效果;在试验巷道的不同区段实施单孔压裂和双孔压裂,并采用“压裂抽采”和“压后即掘”2种工作循环方式进行试验;基于对多项抽采参数的实测结果,从多角度评价多级气相压裂效果。结果表明:多级气相压裂具有明显的重启裂缝与扩张裂缝作用,能够有效改善煤体的渗透性和瓦斯抽采条件;通过对比单孔压裂与双孔压裂效果,并结合现场监测数据发现,双孔多级压裂的效果明显优于单孔多级压裂,双孔多级压裂钻孔作业难度低,且作业后瓦斯更易抽采;观测不同的工作循环方式未见明显差距,但“压后即掘”的工作效率明显更高。多级气相压裂的成功实施,对该技术在低渗矿区的防突消突与瓦斯抽采工作中的应用具有重要指导意义。