基于Gamma过程的压力传感器可靠性分析

预测高可靠、长寿命的压力传感器的准确寿命是一个具有挑战性的任务，因为压力传感器的退化机理具有复杂性、波动性和非线性等特征。本文通过进行加速退化试验，利用性能退化数据，预测了传感器的可靠性和寿命。首先，对压力传感器的退化机理进行了分析，并确定将输出电压作为其性能退化参数。然后，通过推导试验数据，得到了Gamma过程漂移参数和扩散参数之间的约束关系，从而获得了压力传感器在正常工作温度条件下的可靠度函数和可靠寿命。