地质样品中27项元素的粉末压片法x射线荧光光谱测定

本文报导了用x射线荧光光谱法—次粉末压片制样同时测定Na. Mg. Al. Si.P. S. K. Ca. Ti. V. Cr. Mn. Fe. Co. Ni. Cu. Zn. Rb. Sr. Y. Zr. Nb. Ba. Hf. Pb. Th. U等27项元素的快速分析方法。从理论上提出了新的基体效应学校正模式,首次引入了非荧光分析的物质(筒称NFAM)的新概念;并计算了理论α系数,使理论α系数在粉末压片法x射线荧光分析中获得了应用。本方法测定的对象可以是岩石,土壤和水系沉积物等地质样品。     

X—射线荧光光谱分析中选择等效波长的一种方法和几点讨论

在X—射线荧光光谱分析中,长期以来,对等效波长的选取问题讨论颇多。本文利用De Jongh计算的理论α系数,按α系数转换公式导出元素间基本影响系数Aij;再利用Aij和质量吸收系数的关系式,推求出等效波长。 对部分结果的分析,可获得如下推断:在分析元素特征线吸收端的短波侧附近有靶材特征线时,可以靶材特征线作为等效波长,若主要是以连续谱激发即分析元素特征线远离靶材特征线的情况,则取分析元素特征线吸收端波长的2/3为宜。     

岩矿样品X射线荧光分析中多元素体系理论α系数的计算和应用

本文提出了岩矿样品X射线荧光分析中多元素体系的理论α系数的一种计算方法。假设试样由n个组分组成,其各组分平均含量为Cl(Cl=1,2,3,…k,……n),然后,假设某一组分的含量Cl相对于平均含量Cl有一微小变化量ΔC,并使每个组分相应变化一次,用基本参数法方程计算理论X射线相对强度;再按一定的数学模式计算相应的基本α系数,混合α系数和修正α系数。以实例计算了用于地质样品分析的各种理论α系数,应用于实际分析中结果令人满意。     

硅酸盐和碳酸盐类岩石中十一项主次元素的X射线荧光光谱测定——理论α系数转换表的应用

应用X射线荧光光谱法测定硅酸盐和碳酸盐类岩石样品中的十一项主次元素——铁、锰、钛、钙、钾、硫、磷、硅、铝、镁和钠。样品以四硼酸锂(Li_2B_4O_7)熔剂五倍稀释(0.8000克样品加4.000克Li_2B_4O_7)熔融,制成透明、均匀的玻璃片,然后在荷兰Philips PW1400全自动X射线光谱仪器上用缓冲比测量方式测定,并利用该仪器计算机(P851型,内存32K)选用XR-14软件中的DJ模式对基体效应进行数学校正。校正所用的元素间相互影响系数全部为理论α系数。它们是由De Jongh计算的理论。系数(消去了SiO_2项)转换得到的,称之谓转换α系数表(消去了烧失量项)。由于采刑丁这一理论α系数的转换系数,分析中不仅可以联机应用,且能直接打印出分析结果,又不必预先测定烧失量,也不必考虑烧失量项在测定中的影响。 测试结果单项偏差和加总量计算(十一项主次元素加CO_2、H_2O~ 、F-、Cl-等)均满足部颁分析误差标准;具有快速、准确等优点。     

再论X射线荧光光谱分析中的理论Alpha系数的转换

引言 在地质样品的岩石矿物分析和金属冶炼的合金、炉渣分析中,X射线荧光光谱分析已显示出快速、准确等优越性,从而越来越引起人们重视。自70年代以来,X射线荧光光谱分析法及其仪器已发展到一个新阶段,成为必不可少的分析手段,可用来测定固体、粉末、溶液样品中高、中、低和微量元素(范围从ppm—100％)。