电子探针在矿物学中的应用

电子探针是1949年由法国R.卡斯坦(Castaing)把一台电子显微镜和X光谱仪组合改装成的。1956年第一台定点式仪器正式制成,1960年扫描型商品仪器问世。70年代初,由于引进了扫描电镜的二次电子图象技术,电子探针进入了一个新的发展阶段,其     

各种微探针分析技术及其应用

<正> 五十年代初,随着电子技术日新月异的发展,以电子探针为先导的各种微探针分析技术相继出现,开创了从微区成分入手研究固体物质的一系列新方法。所谓微探针技术或者叫微区分析技术,是指利用各种形式的激发源(如电子、离子、质子或光子等),把它聚集成微米级或更小的微探测针,从而对物质进行成分分析,有的也能兼做微形貌、微结构和某些物理性能等方面的观察研究。由于它能对大约仅有立方微米     

电子探针、扫描电镜分析试样的准备及结果判读问题

<正> 电子探针包括分析扫描电镜,其特点是可以直接在光片、薄片上任意选点分析,分析区域小到1立方微米左右,可以分析的元素范围广(从 B_5—U_(92)),不损坏试样,并能同时观察样品表面的各种扫描图像。它已广泛应用于矿物学、岩石学、矿床学和其他地质领域,解决了许多过去难以解决的问题,例如用于鉴定细小的疑难矿物,分析新矿物和造岩矿物,分析研究     

有关电子探针定性定量分析中的一些问题

<正> 在过去廿年内,探针技术的迅速发展导致了非破坏性的显微分析标准方法的建立。这在地学领域中,对扩大我们的知识范围作出了巨大贡献。这种方法不仅可以测定共生矿物中各种矿物的成分,而且还可以测定最小的固态包体(小到直径为5微米)的化学成分,也可确定混合晶体的出溶体。某种矿物(如辉     

矿物中10ppm浓度微量元素的电子探针分析

<正> 对低浓度元素进行电子探针分析的关键问题是要获得有关特征发射线的净X射线强度,并具有足够精度和准确度。由于净强度不能直接测量,而只能从峰值强度中扣掉背景获得,故峰值强度和背景强度的测量都必须具有很高的精度,例如,我们在ARL-EMX电子探针仪上,使用30kV的加速电压时,Fo_(80)橄榄石中20ppm Nd的Lα发射     

电子探针在新矿物分析中的作用及几个重要的技术问题

<正> 电子探针发明之前,新矿物的化学组成往往要经过对岩石或矿石的破碎、分选,然后再进行化学分析或其他分析才能获得。这样,不但要付出辛勤劳动和花费很多时间,还可能因挑选不纯而造成误差。尤其是,这种方法对于仅有微米大小的颗粒或呈紧密连生的新矿物分析是无能为力的。电子探针具有的独特功能,为新矿物的发现与分析提供了一种极好的手段,并已发挥了重要作用。为了表彰电子探针的发明者     

电子探针定量数据的误差计算方法

<正> 电子探针的定量分析数据已广泛应用于科学研究和生产实践,现在每年用电子探针分析的新矿物都占新矿物总数的一半以上,可是,由于影响准确度的因素很多,有些还存在不确定性,至今国内外的分析数据一般都没有给出误差范围,这就给正确使用数据造成一定的困难。在电子探针应用日益深入的今天,提高分     

激光拉曼分子微探针及其应用

<正> 大多数微分析物理方法的基本原理都是根据原子的性质建立起来的,它们只能间接地提供原子是怎样结合在一起并形成多原子结构的信息。电子探针或离子探针就是这类方法。这些方法往往不能提供化学键和分子结构方面的信息。