首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   1篇
  免费   0篇
综合类   1篇
  2008年   1篇
排序方式: 共有1条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1
1.
MCS51单片机系统电磁干扰测试研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
为了确定MCS51单片机系统工作模式下的电磁场的时空分布,利用电磁兼容扫描仪对系统进行扫描分析,找出系统三维电磁场辐射图形,从而精确定位辐射干扰源的位置并分析频谱成分.试验结果表明:系统正常工作时MCS51单片机芯片、晶振以及程序存储器是产生干扰频率的主要来源,电磁辐射强度最高可达36 dBμV.  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号