地质样品中27项元素的粉末压片法x射线荧光光谱测定

本文报导了用x射线荧光光谱法—次粉末压片制样同时测定Na. Mg. Al. Si.P. S. K. Ca. Ti. V. Cr. Mn. Fe. Co. Ni. Cu. Zn. Rb. Sr. Y. Zr. Nb. Ba. Hf. Pb. Th. U等27项元素的快速分析方法。从理论上提出了新的基体效应学校正模式,首次引入了非荧光分析的物质(筒称NFAM)的新概念;并计算了理论α系数,使理论α系数在粉末压片法x射线荧光分析中获得了应用。本方法测定的对象可以是岩石,土壤和水系沉积物等地质样品。     

岩矿样品X射线荧光分析中多元素体系理论α系数的计算和应用

本文提出了岩矿样品X射线荧光分析中多元素体系的理论α系数的一种计算方法。假设试样由n个组分组成,其各组分平均含量为Cl(Cl=1,2,3,…k,……n),然后,假设某一组分的含量Cl相对于平均含量Cl有一微小变化量ΔC,并使每个组分相应变化一次,用基本参数法方程计算理论X射线相对强度;再按一定的数学模式计算相应的基本α系数,混合α系数和修正α系数。以实例计算了用于地质样品分析的各种理论α系数,应用于实际分析中结果令人满意。