| 片式电阻防硫化可靠性技术研究 |
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| 引用本文： | 张世莉,唐万军,肖玲. 片式电阻防硫化可靠性技术研究[J]. 环境技术, 2020, 0(1): 46-49,56. DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2020.01.012 |
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| 作者姓名： | 张世莉 唐万军 肖玲 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060,中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060,中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060 |
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| 摘 要： | 针对某模块产品中片式电阻出现硫化失效问题,通过对片式电阻硫化的机理研究,结合高可靠非封闭结构产品及使用环境要求,开展了多种质量等级电阻、工艺方案、工艺材料的耐硫化环境试验。通过多组试验的对比,提出了非封闭结构产品中片式电阻防硫化的可靠性技术解决方案。
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| 关 键 词： | 片式电阻 硫化 非封闭结构 |
Study on Reliability of Chip Resistor in Preventing Sulfuration |
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| ZHANG Shi-li,TANG Wan-jun,XIAO Ling. Study on Reliability of Chip Resistor in Preventing Sulfuration[J]. Environmental Technology, 2020, 0(1): 46-49,56. DOI: 10.3969/j.issn.1004-7204.2020.01.012 |
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| Authors: | ZHANG Shi-li TANG Wan-jun XIAO Ling |
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