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| 典型航空印刷电路板盐雾环境腐蚀损伤规律研究 | |
| 作者姓名： | 李敏伟 傅耘 李明 蔡良续 赵乃亮 |
| 作者单位： | 中国航空综合技术研究所,北京 100028 |
| 摘 要： | 针对盐雾环境对航空电子产品腐蚀的突出作用,研究了典型航空印刷电路板在盐雾环境中的腐蚀（损伤）特征,并与印刷电路板的海洋大气环境效应进行了对比分析,获取了典型航空印刷电路板盐雾环境腐蚀（损伤）机理,建立了航空印刷电路板腐蚀（损伤）随盐雾环境作用时间的演变规律。 |
| 关 键 词： | 印刷电路板 盐雾 腐蚀 损伤 |
| 收稿时间： | 2012-09-01 |
| 修稿时间： | 2012-12-15 |
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