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电子整机加速贮存试验结果验证方法研究
作者姓名:唐宇彬  张生鹏  徐如远  李昊  倪瑞政
作者单位:航天科工防御技术研究试验中心,北京 100854
基金项目:技术基础科研项目(JSHS2022208B001)
摘    要:目的 确定加速贮存试验中电子整机的加速因子,并评估整机加速贮存试验结果的准确性。方法 基于零部组件产品的贮存寿命信息,建立整机贮存寿命模型,综合计算整机加速因子。采用灰关联熵分析、距离系数分析方法,对自然贮存与加速贮存数据的相关性进行分析和评价,验证可加速性。最后通过对比自然及加速贮存试验数据外推寿命结果,验证整机加速贮存试验结果的准确性。结果 结合某微波电子整机的自然贮存试验和加速贮存试验数据,加速贮存试验结果相对自然贮存试验误差小于5%,加速因子及寿命评估结果准确。结论 该方法可为电子整机加速开展加速贮存试验及寿命评估提供一种新的技术途径。

关 键 词:电子产品  加速贮存试验  相关性分析  灰关联熵  距离系数  寿命评估中图分类号:TJ089 文献标志码:A 文章编号:1672-9242(2025)05-0034-06
收稿时间:2025-03-28
修稿时间:2025-05-04
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