| 基于维纳过程的MEMS陀螺仪贮存寿命评估 |
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| 引用本文： | 谭甜甜,张世艳,杨昊雨,赵方超.基于维纳过程的MEMS陀螺仪贮存寿命评估[J].装备环境工程,2024,21(2):59-64. |
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| 作者姓名： | 谭甜甜 张世艳 杨昊雨 赵方超 |
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| 作者单位： | 西南技术工程研究所 弹药贮存环境效应重点实验室，重庆 400039 |
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| 摘 要： | 目的 针对MEMS陀螺仪在步进应力加速试验条件下获取的性能退化数据，提出基于维纳过程的贮存寿命评估方法及其模型准确度检验方法。方法 首先，确定温度为影响MEMS陀螺仪性能退化的主要环境因素，采用步进温度应力加速试验的方式获取其性能退化数据。其次，分析各项性能参数的演变规律，确定标度因数为表征产品性能退化的特征性能参数。最后，采用漂移维纳过程对标度因数退化轨迹进行建模，并外推得到常温条件下的贮存寿命。结果 采用留一法对模型精度进行验证，模型准确度最低为86.44%。可靠度水平为0.95时，常温贮存(25 ℃)条件下的寿命评估结果为50.02 a。结论 基于维纳过程建立的性能退化模型的准确度在85%以上，该模型可应用于指定贮存条件下MEMS陀螺仪的性能退化预测及贮存寿命评估。
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| 关 键 词： | MEMS陀螺仪 步进退化 标度因数 维纳过程 贮存寿命评估 留一法交叉验证中图分类号:TJ04 文献标志码:A 文章编号:1672-9242(2024)02-0059-06 |
| 收稿时间： | 2023/11/15 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2023/11/17 0:00:00 |
Storage Life Evaluation of MEMS Gyroscope Based on Wiener Process |
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| TAN Tiantian,ZHANG Shiyan,YANG Haoyu,ZHAO Fangchao.Storage Life Evaluation of MEMS Gyroscope Based on Wiener Process[J].Equipment Environmental Engineering,2024,21(2):59-64. |
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| Authors: | TAN Tiantian ZHANG Shiyan YANG Haoyu ZHAO Fangchao |
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| Institution: | CSGC Key Laboratory of Ammunition Storage Environment Effects, Southwest Institute of Technology and Engineering, Chongqing 400039, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | MEMS gyroscope step-stress degradation scaling factor Wiener process storage life evaluation leave-one-out cross-validation |
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