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| 在磁流体中测定微晶的密度 | |
| 作者姓名： | J.M.Hughes 杨温琪 |
| 摘 要： | <正> 引言 随着电子显微镜和单品x射线技术(例如Gandolfi照像设备)的出现,对微晶进行矿物学描述已成为可能,从而可以测定微晶某些难以捉摸的物理性质,其中一个性质就是微晶密度。除了矿物的组成和晶胞参数资料外(Z),这是必须补充的一个基本性质。综合这些资料则可确定每单位晶胞的分子数,由下列关 |
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