芯片引脚振动断裂故障分析及改进研究 |
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引用本文: | 姚佳冬,林克敏,肖伟,丁瑞翔,徐超亮.芯片引脚振动断裂故障分析及改进研究[J].环境技术,2023(9):88-92. |
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作者姓名: | 姚佳冬 林克敏 肖伟 丁瑞翔 徐超亮 |
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作者单位: | 中国电子科技集团公司第五十二研究所 |
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摘 要: | 某型加固电子设备随机振动试验后因芯片引脚断裂引发黑屏故障,本文从零部件加工、装配过程、设计等多角度进行全面分析,结合ANSYS仿真软件进行力学仿真,确定芯片散热结构抗振设计不合理导致引脚在恶劣环境下疲劳断裂。开展改进研究,提出有效整改措施,通过受力对比及试验摸底验证改进措施切实有效。
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关 键 词: | 随机振动 断裂 力学仿真 抗振设计 改进研究 |
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