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用简便的斜视法比较矿物折光率
引用本文:Dick Van Hilten ,高知云.用简便的斜视法比较矿物折光率[J].地球与环境,1983(1).
作者姓名:Dick Van Hilten  高知云
作者单位:西北大学地质系
摘    要:<正> 引言 矿物学家和岩石学家在研究岩石薄片时,常用偏光显微镜测定矿物的光学性质,其中重要的一项就是矿物之间或矿物和周围介质之间的折射率差别。为此,本世纪初以来就使用了Becke和Schroeder Van der Kolk的经典方法。

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