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| 废TFT-LCD面板中主要元素溶出特性 | |
| 作者姓名： | 杨东梅 郭玉文 乔琦 张建强 刘景洋 |
| 作者单位： | 1.西南交通大学地球科学与环境工程学院,四川成都610031;中国环境科学研究院,北京100012 |
| 基金项目： | 中国环境科学研究院科研业务专项项目(2007KYYW02) |
| 摘 要： | 以废TFT-LCD面板破碎料为研究对象,在使用XRF（X射线荧光光谱分析仪）分析其主要元素组成以及采用ICP-AES测试不同酸体系下主要元素浓度的基础上,研究了不同酸体系下主要元素的溶出特性. 结果表明:废TFT-LCD面板由Si、Al、Sr和In等10余种元素组成,其主要组成元素在不同酸体系下的溶出特性存在明显差异,这与其赋存形态有密切关系. In在各种酸体系下溶出浓度变化较小,为283～306 mgL. Fe的溶出特性与In相似,是主要伴随离子. Al和Sr易在浓盐酸体系下溶出. As在含有浓硝酸的体系下溶出率较高,最高溶出率为100%,而在无浓硝酸体系下的溶出率最低值仅为293%. Zn、Ti、Cu、Sn和Cr在各酸体系下的溶出浓度均较低(均低于1 mgL),不宜回收. |
| 关 键 词： | 废TFT-LCD 面板 ICP-AES 溶出特性 |
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