航天器空间ESD干扰单机级试验方法研究 |
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作者姓名: | 王志浩 冯伟泉 赵春晴 代佳龙 李庆 |
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作者单位: | 北京卫星环境工程研究所,北京100094;北京卫星环境工程研究所,北京100094;可靠性与环境工程技术重点实验室,北京100094;北京卫星环境工程研究所,北京100094;北京卫星环境工程研究所,北京100094;北京控制工程研究所,北京100190 |
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摘 要: | 在轨状态下,卫星表面材料与空间环境交互作用,会引起材料表面带电,继而发生静电放电(ESD),产生的电磁干扰会经由单机电缆耦合进入电子电路中,形成干扰脉冲甚至损毁电子器件。针对卫星用单机产品,给出了一种可行的空间ESD电缆耦合干扰试验方法,通过电缆耦合的方式模拟空间ESD对单机产品的干扰。研究表明该试验方法能够有效暴露产品设计的薄弱环节,为优化设计、提升单机抗扰能力提供依据。
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关 键 词: | 静电放电 单机 结构电流 试验 |
收稿时间: | 2013-01-20 |
修稿时间: | 2013-05-01 |
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