| 载铜氮化碳纳米片对单质汞的吸附脱除特性 |
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| 作者姓名： | 刘东京 张禛 吴江 |
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| 作者单位： | 1. 江苏大学能源与动力工程学院, 江苏 镇江 212013;
2. 上海电力大学能源与机械工程学院, 上海 200090 |
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| 基金项目： | 江苏大学高级人才基金资助项目（18JDG017）;国家自然科学基金重点资助项目（21237003） |
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| 摘 要： | 用简易热剥离法合成了氮化碳纳米片（CNNS）,再通过等体积浸渍法将铜负载于CNNS表面合成了载铜CNNS吸附剂,用于低温下吸附脱除气态单质汞（Hg0）.利用氮气吸附-脱附、X射线衍射（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、X射线光电子能谱（XPS）等手段对吸附剂进行表征.结果表明：CNNS对Hg0具有良好的吸附性能,吸附温度为120℃时,脱汞效率约为54.2%;载铜修饰可极大提高CNNS的脱汞活性,脱汞效率在40~240℃温度范围内均大于82.3%,这归因于铜与氮化碳间的紧密接触.煅烧温度对载铜CNNS的脱汞活性影响较大,最佳煅烧温度为200℃.通过载铜修饰可有效活化CNNS,提高其对Hg0的氧化能力,这可能归因于铜离子与氮化碳之间的莫特-肖特基电子转移效应.SO2和水蒸气对载铜CNNS的脱汞性能有抑制作用.
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| 关 键 词： | 单质汞 氮化碳 铜修饰 莫特-肖特基效应 |
| 收稿时间： | 2018-10-22 |
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