GaAs MMIC功率放大器加速寿命试验及可靠性评估

目的评估新研GaAs微波单片集成电路(MMIC)功率放大器的可靠性指标。方法用图估法和范-蒙特福特检验法对失效数据进行分布假设检验,利用贝叶斯定理估算低温度应力下无失效数据的威布尔分布参数。结果在正常工作情况下,结温为150℃时,该器件特征寿命为833 370h,10年平均失效率为1.2472×10-7/h,平均寿命为738 540 h,可靠度等于0.9时的可靠寿命为31年。结论该型器件在结温小于250℃时服从威布尔分布,结温为270℃时器件的失效机理已发生了变化,器件的各项可靠性指标满足使用要求。