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| SEM和X-Ray对云冈石窟石雕风化物的分析 | |
| 作者单位： | ;1.人民教育出版社 |
| 摘 要： | 用X射线衍射仪和扫描电镜对云冈石窟石雕风化物进行了研究,从微观角度分析了不同开凿年代风化样品差异的原因和不同深度样品在微观角度呈现的差异现象。结果表明:随着时间的推移,石雕风化物中的Al4Si4O10(OH)8含量逐渐减少,而SiO2和KAlSi3O8的相对增多。元素Al和Si的含量开凿于晚期的相对高于开凿于早期的石窟,而开凿于晚期的石窟中元素K的含量则低于开凿于早期的石窟。纵向看,石雕风化物表层K,Al元素含量高于内层,Si元素的含量则低于内层的值。 |
| 关 键 词： | 石质文物 风化度 光谱解析 |
Meaning and Function of the Picture and Words on the First Pages of Chapters——A Case Study on Senior High School Biology Textbook 1 (PEP Edition) |
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