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HNS多点阵列装药慢速烤燃试验研究
引用本文:秦国圣,都振华,王可暄,王寅,周密.HNS多点阵列装药慢速烤燃试验研究[J].装备环境工程,2019,16(9):34-39.
作者姓名:秦国圣  都振华  王可暄  王寅  周密
作者单位:陕西应用物理化学研究所,西安,710061;陕西应用物理化学研究所,西安,710061;陕西应用物理化学研究所,西安,710061;陕西应用物理化学研究所,西安,710061;陕西应用物理化学研究所,西安,710061
摘    要:研究多点阵列冲击片雷管装药的热安全性。方法针对φ3 mm×3 mm、φ4 mm×4 mm、φ5 mm×5 mm、φ4mm×8mm共四种不同尺寸的HNS多点阵列装药开展慢速烤燃试验研究,得到HNS多点阵列装药在3.3℃/h、5、10℃/min三种不同升温速率下的响应特性。结果同规格装药情况下,随着升温速率的提高,其热烤响应剧烈程度有加剧趋势;同升温速率条件下,试样药量越大,反应剧烈程度有加剧趋势。结论阵列装药有利于分散HNS装药在热烤条件下的热积累,降低热烤试验的响应强度,提升装药的热安全性。

关 键 词:慢速烤燃  六肖基菧(HNS)  多点阵列  冲击片雷管  火工品
收稿时间:2019/3/20 0:00:00
修稿时间:2019/4/5 0:00:00

Slow Cook-off Test of HNS Multi-point Array Charge
QIN Guo-sheng,DU Zhen-hu,WANG Ke-xuan,WANG Yin and ZHOU Mi.Slow Cook-off Test of HNS Multi-point Array Charge[J].Equipment Environmental Engineering,2019,16(9):34-39.
Authors:QIN Guo-sheng  DU Zhen-hu  WANG Ke-xuan  WANG Yin and ZHOU Mi
Abstract:
Keywords:slow cook-off  HNS  multi-point array  EFI  detonator
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