| 电子辐照Kapton/Al薄膜力学性能退化规律与机理研究 |
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| 引用本文： | 沈自才,牟永强,吴宜勇.电子辐照Kapton/Al薄膜力学性能退化规律与机理研究[J].装备环境工程,2015,12(3):42-44,69. |
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| 作者姓名： | 沈自才 牟永强 吴宜勇 |
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| 作者单位： | 1. 北京卫星环境工程研究所,北京,100094
2. 哈尔滨工业大学,哈尔滨,150001 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 （41174166， 51273052） |
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| 摘 要： | 目的为航天器用Kapton/Al薄膜材料的选用提供数据支撑和高性能Kapton/Al薄膜材料的研制提供理论支持。方法用综合辐照试验装置对Kapton/Al薄膜材料进行电子辐照,用拉力试验机对Kapton/Al薄膜材料开展力学性能拉伸试验,用XPS对其成分和微观结构进行测试分析。结果Kapton/Al薄膜材料的抗拉强度和断裂伸长率随着拉伸速度的增加而降低,随着电子辐照注量的增加呈指数减小,在电子辐照下,薄膜材料分子键发生断裂和交联,C—CO和C—N键断裂发生脱氧和脱氮反应,C—H基团相对含量增大。结论电子辐照将造成Kapton/Al薄膜材料力学性能降低,薄膜材料分子价健的断裂和交联是薄膜力学性能降低的主要原因。
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| 关 键 词： | 薄膜材料 力学性能 电子辐照 |
| 收稿时间： | 2015/1/15 0:00:00 |
| 修稿时间： | 2015/6/15 0:00:00 |
Study on thethe Mechanical Property Degradation Pattern and Mechanism of the Mechanical Property of Kapton/Al Film by Electron Radiation |
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| SHEN Zi-cai,MU Yong-qiang and WU Yi-yong.Study on thethe Mechanical Property Degradation Pattern and Mechanism of the Mechanical Property of Kapton/Al Film by Electron Radiation[J].Equipment Environmental Engineering,2015,12(3):42-44,69. |
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| Authors: | SHEN Zi-cai MU Yong-qiang and WU Yi-yong |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | thin film material mechanical property electron radiation |
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