用半导体背散射电子探测器对地质样品进行扫描电镜检测

<正> 几年来,找们利用不同的探测器系统和样品环境,获得了各种样品(地质、冶金和陶瓷等方面的样品)的良好的背散射电子图像。因为我们测得的结果近似于,有时甚至优于Robinson和Nikel(1979)报道的结果,所以,我们希望介绍这些可供选择的技术。我们特别希望纠正“Robinson和Nikel(1979)的测试结果只是他们的成像系统所特有的”这样一种印象。我们还将介绍,如何根据背散射电子图像来得到更进一步的信息,特别是Robinson和Nikel(1979)没有论及的关于矿物成份及其所占比例等方面的信息问题。