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| ICP-MS法测定电子电器材料中的有害元素铅、镉、砷、铬 | |
| 引用本文： | 张华,王英锋,施燕支,陈玉红,李平,John Lau,Steven Wilbur.ICP-MS法测定电子电器材料中的有害元素铅、镉、砷、铬[J].环境化学,2006,25(5):657-660. |
| 作者姓名： | 张华 王英锋 施燕支 陈玉红 李平 John Lau Steven Wilbur |
| 作者单位： | 1. 首都师范大学分析测试中心 2. 安捷伦科技有限公司 |
| 摘 要： | 建立了电感耦合等离子体质谱测定不同基体的电子电器材料中铅、镉、铬、砷四种有害元素的方法.对仪器的参数、测试稳定性等作了系统研究,优化了对不同基体样品中铅、镉、铬、砷元素分析的前处理条件,探讨了各种材料中基体元素与其它共存元素对待测元素的影响.方法检出限为0.0024-0.46μg·g-1,对标准物质的测定值与参考值相符,相对准偏差为0.6%-5.8%. |
| 关 键 词： | 有害元素 电器材料 质谱测定 ICP-MS法 电子 电感耦合等离子体 铅 镉 |
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