环境试验设备 |
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引用本文: | 小仓东一,杨爱珍.环境试验设备[J].环境技术,1986(3). |
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作者姓名: | 小仓东一 杨爱珍 |
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作者单位: | 日 |
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摘 要: | 目前日本以半导体为代表的电子元件,特别是集成电路元件的可靠性,正在迅速提高,元器件的故障率均达到了百万分之几的管理水平,甚至连家用电器产品的市场故障率也得到改善,仅百万分之几。从研究设计这些电子元件,经过制造到在市场上使用的整个过程中,都要有足够的可靠性。但是由这些电子元件组装起来的产品,只有某些特定的验收试验,还不能保证在市场上的可靠性要求。
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