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平面型浮栅Flash单粒子效应研究进展
引用本文:曾庆锴,李彩,卢健,张勇,张冬冬.平面型浮栅Flash单粒子效应研究进展[J].环境技术,2019,37(6).
作者姓名:曾庆锴  李彩  卢健  张勇  张冬冬
作者单位:上海微小卫星工程中心,上海 201203;上海微小卫星工程中心,上海 201203;上海微小卫星工程中心,上海 201203;上海微小卫星工程中心,上海 201203;上海微小卫星工程中心,上海 201203
摘    要:Flash在商用半导体领域及航天领域均具有广泛的应用。本文针对Flash芯片的外围电路和浮栅存储阵列分别展开单粒子效应研究的讨论。结论是Flash的单粒子效应与芯片结构有关,辐照束流作用在芯片位置不同,会产生不同的错误模式。

关 键 词:Flash  浮栅  单粒子效应
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