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| 某设备典型功能的BIT设计分析 | |
| 引用本文： | 孙思琦,王春辉,吴栋,雷东鹏.某设备典型功能的BIT设计分析[J].环境技术,2019(z2). |
| 作者姓名： | 孙思琦 王春辉 吴栋 雷东鹏 |
| 作者单位： | 工业和信息化部电子第五研究所,广州 510610;广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室,广州 510610;工业和信息化部电子第五研究所,广州 510610;广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室,广州 510610;工业和信息化部电子第五研究所,广州 510610;广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室,广州 510610;工业和信息化部电子第五研究所,广州 510610;广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室,广州 510610 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 测试性设计 诊断设计 BIT设计 虚警 |
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