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本文介绍九个厂家的电容器按SJ2598—85、SJ2599.1—85标准进行耐久性试验的结果,分析探讨电容器的失效机理,提出可通过改进铝箔及电解液配方达到提高电解电容器的质量。 相似文献
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本文通过典型失效案例,对独石电容器常见的失效模式,即短路、开路、电参数漂移及其它物理变化(如端电极脱落、瓷体炸裂)进行了系统的总结,对造成独石电容器失效的原因与机理进行了详细的阐述,在此基础上,有针对性的提出了避免独石电容器装机使用后失效的有效措施。 相似文献
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针对表贴电阻典型的失效模式,选取了几个案例进行分析,通过磨抛制样,X射线检查,扫描电镜及能谱分析等手段,对各种失效模式,阐述了其失效机理,并有针对性提出了控制失效发生的具体措施。 相似文献
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半导体器件失效案例统计与综合分析 总被引:2,自引:0,他引:2
电子元器件是电子产品最基本的组成部分,而半导体器件通常又是关键与核心器件;半导体器件失效数占电子元器件总失效数的一半以上。本文针对半导体器件的失效案例进行筛选、汇总,按照失效类别、失效模式和失效原因进行分类统计,并对统计数据进行分析;其结果可以为从事元器件质量管理、元器件研制、采购和整机设计人员在元器件研制、采购、试验、选用和使用等全过程控制半导体器件失效提供重要的参考数据。 相似文献
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本文以1988年进行的一次铝电解电容器全国统测为例,分析说明电源稳定度好坏和施加负荷偏差大小,以及是否准确地施加纹波电流,均对电解电容器耐久性或其它负菏试验的样品失效有直接影响,建议有关部门和人员对此作出规定. 相似文献
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电磁干扰环境下产品失效机理分析 总被引:3,自引:0,他引:3
论述了电磁干扰环境对产品所产生的影响,阐述了在此环境下产品的失效模式,分析了在电磁干扰环境应力下产品功能失效的原因,指出了产品一般都会受到电磁波感应耦合、核电磁脉冲、静电失效、雷电电磁脉冲等干扰的影响作用,并针对性地提出了对产品进行有效防护的方法。 相似文献
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通过对典型案例的介绍,分析了焊接工艺不当对元器件失效产生的影响。通过对焊接工艺过程中各种影响因素的分析,以及对各种失效模式总结,阐述了焊接工艺不当(包括焊接前,元器件的预处理不当),造成元器件失效的失效原因与机理,在此基础上,提出了有针对性的改进措施。 相似文献
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本文从工程角度列出录音机机芯各种主要失效模式,逐项作了失效机理分析,并提出了提高机芯可靠性的一些具体方法。 相似文献
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湿热环境应力下产品失效机理分析 总被引:2,自引:0,他引:2
阐述了湿热环境下产品的失效模式,分析了在湿热环境应力下产品功能失效的原因,指出了产品一般都会受到湿度与温度的综合影响,产品的各种劣化效应往往是产品表面受潮和体积受潮两种现象所造成的,并针对性地提出了对产品进行有效防护的方法. 相似文献
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本文通过典型失效案例介绍,结合光耦器件结构及工艺制程的特点,分析了器件本身缺陷引起光耦失效的机理。另一方面,结合光耦应用电路的特点,对外部电应力引起光耦失效的原因也进行了详细阐述。 相似文献
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TVS管是一种常见的浪涌抑制器件,但如果使用不当容易损坏。本文从大量的调查研究中,选取几个典型的TVS管失效案例,详细分析失效原因,并将这些原因进行总结,提出有效的整改办法。 相似文献
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介绍LED产品常见的失效分析手段,主要包含外观检查、电性能测试、X-Ray透视检查、开封检查、金相切片分析、扫描电镜和能谱分析等手段,并结合实际案例对几种方法进行描述。 相似文献
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可靠性工程技术中的众多工作项目需要建立在失效机理的基础上。了解和应用失效机理是改进产品可靠性的核心工作之一,在产品可靠性工程中被广泛应用。本文澄清了相关的基本概念,并且分析了失效机理在产品可靠性预计、寿命评估、故障模式及失效机理分析、可靠性试验以及失效分析方面的应用。 相似文献
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本文主要针对信号线路交换网络设计中的失效问题展开讨论,对输出信号在传输网络中失效性进行了评估,根据失效评估在设备可靠性设计方面做了相应的考虑。 相似文献