基于温度应力试验的电子产品可靠性仿真分析

本文针对某伺服机构控制器电路板采用故障物理方法进行失效分析,然后在不同温度应力下开展该电子产品温升试验和热仿真,之后基于Coffin-Manson模型进行产品焊点疲劳寿命仿真并求解各元器件寿命分布,最后构建竞争失效模型进行电路板寿命预计。通过温度应力试验得到了关键元器件温升值在（23～31）℃范围内,基于CRAFE热仿真得到了产品各元器件温度,应用Coffin-Manson模型得到了元器件寿命分布,运用竞争失效方法计算了产品失效概率函数,评估了产品工作10年的可靠度为0.94,在可靠度指标为0.9时其工作寿命为12.11年。本文基于温度应力试验和热仿真,通过进行故障物理分析和元器件竞争失效分析有效评估了电子产品工作寿命,对其他类似电子产品可靠性分析提供了一定参考。     

基于层次结构模型的系统寿命评估方法研究

寿命评估是可靠性研究中的重要分支,如今主流的寿命评估方法主要集中在单设备单部件级,随着科技的发展,装备逐渐向大型化、智能化和复杂化的方向发展,如何评估复杂装备的系统寿命成为一个待解难题。本文应用具体案例,基于层次结构模型并结合相似产品分析法对系统的寿命评估进行了研究和探讨。     

文摘

文摘《温度循环试验的加速性问题》──《矢崎技》，１９９３，（１８）８１～８６（日）：近年电子部件的寿命正在延长，因此，对它的试验也需时很长。温度循环试验（热冲击试验）便成为所期望的快速加速试验法之一。因此，以典型的电子部件对温度循环试验的加速性进行了...     

舰载武器装备产品温度-湿度两应力加速老化试验方法研究

老化是舰载武器装备上的材料、电子设备发生失效或性能退化的主要因素。加速老化试验属于可靠性试验范畴,是评价产品寿命和预测产品退化趋势的主要方式之一。在分析舰载武器服役环境和出现的老化问题的基础上,利用Peck加速模型和基于性能退化数据的评估方法,提出了一种温度-湿度两应力加速老化试验方法,并给出了应用算例。     

随钻测量仪可靠性建模与评估方法

随钻测量仪(MWD)是随钻测井的关键设备,其可靠性高低对测井的效率有重要的影响。本文提出了随钻测量仪可靠性建模与评估方法。该方法通过采集随钻测量仪故障数据,分析初始累积分布函数图趋势,选择初始分布模型,并应用参数估计、拟合优度检验等检验模型拟合效果,最终确定产品寿命分布,实现对产品可靠性的建模与评估。实例分析表明,该方法简便有效,在一定样本量条件下,可作为随钻测量仪可靠性建模与评估的有效手段。     

绝缘结构综合应力加速寿命试验方法研究

针对绝缘结构在实际使用过程中受到综合应力因素的影响的特点,提出了一种基于综合应力的绝缘结构可靠性评估方法,可以有效地指导绝缘结构加速寿命试验的设计和实施。首先通过对绝缘结构进行失效机理及应力分析,确定影响绝缘结构寿命的主要应力,选取适当的综合应力加速模型。其次,确定各加速应力水平,进行综合应力加速寿命试验方案的设计。最后,基于失效数据对绝缘结构进行可靠性评估。     

基于HALT特性的橡胶圈寿命评估研究

针对轨道交通相关组件、尤其是密封圈进入到次轮四级修所要进行的频繁维护及更换所耗费的大量人力、物力及财力,需要确定密封圈的剩余寿命,为维修及更换提供理论依据。本文首先分析密封圈的工作环境,确定密封圈的使用中主要的敏感的环境应力为温度;随后对密封圈进行HALT试验,根据压缩率确定其极限工作环境温度;最后对密封圈进行四个温度的加速寿命寿命试验,根据密封圈的压缩变形率以及基于温度的寿命评估方程阿伦尼斯方程,预估橡胶密封圈的剩余寿命,确定密封圈的剩余寿命为12 371 h。     

加速寿命试验在教学触摸一体机可靠性验收试验中的应用

本文以教学触摸一体机为研究对象进行可靠性验收试验,并以加速寿命试验的方法对试验过程进行加速。试验采用序贯截尾试验方案,利用阿伦尼斯模型计算出加速因子,极大的缩短了试验时间,为探索相关产品的可靠性评估提供了检验方法方面的参考。     

新能源汽车PTC加热器寿命试验方法研究

针对新能源汽车广泛使用的PTC加热器,本文调研了其使用环境、主要故障模式、失效机理及关键寿命指标,在此基础上确认其试验应力及监控指标,并由此设计了一套用于评估PTC加热器寿命的试验方法,分析产品的寿命情况,为该类产品寿命评估提供参考.     

长寿命电子设备加速寿命试验技术研究

针对工程实际中长寿命电子设备寿命评估困难的问题,基于派克（Peck）模型建立电子设备寿命消耗与温、湿度复合应力的物理化学关系,获得电子设备在加速试验应力下相对于正常工作环境下的加速因子,结合指数分布以及可靠性鉴定和验收试验理论,利用加速因子建立寿命消耗等效折算关系,计算电子设备加速寿命试验时间,通过提高经受的应力量级,刺激薄弱环节,提高试验效率,在较短的试验时间内验证了电子设备寿命满足研制的可靠性要求。