HALT试验技术的研究

高加速寿命应力试验（HALT）,是一种通过施加阶梯强化应力于试品,达到快速发现产品潜在缺陷,操作设计边际及结构强度极限的试验方法,主要应用于产品研发设计阶段。由于该方法效果明显,目前已越来越多的电子电气产品制造商认可并推广使用,成为研发设计工程师提高产品可靠性的重要试验手段。本文简要介绍HALT试验的目的,并结合实际,探讨了HALT试验设备的关键性能指标。另外,基于日常实践经验,重点分析和讨论了HALT试验过程中应该关注的一些技术处置措施,从而帮助测试人员正确执行HALT。     

高加速寿命可靠性试验HALT技术研究

从研究开发HALT试验的背景出发,介绍了进行HALT试验的基本原理及其意义,并说明了该试验设备的各组成部分。同时指出了HALT试验可分为四个分段试验过程,对其分别进行了阐述,最后对HALT试验的实施步骤进行了分析,认为该试验是一个重复试验－失效－失效分析－改进并维修－再试验的过程。开展HALT试验技术及其应用的研究与工程实践,可在产品设计阶段快速消除设计缺陷,缩短研发时间和成本,迅速提供产品的质量和固有可靠性。     

谈谈高加速寿命试验

高加速寿命试验（HALT）是一种新兴技术，它使用在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。本文介绍了HALT的优点，典型的HALT过程及HAST项目；对HAST项目中的温度步进应力，6自由度随机振动，快速温度变换，温度与振动综合试验等方法进行了详细描述。     

道路车辆电工电子设备高加速寿命试验

成熟的汽车企业已经将高加速环境应力试验引入装车电工电子设备的研发、试产和批量供货的管理中,其需求已进入国内检测市场。本文以已发布的车企文件为基础,介绍并讨论高加速寿命试验（HALT）的各项要素和实验室要求。高加速应力筛选（HASS）和稽核（HASA）另行拟文讨论。     

道路车辆电工电子设备高加速应力筛选和稽核

成熟的汽车企业已经将高加速环境应力筛选和稽核引入装车电工电子设备的研发、试产和批量供货的管理中,其需求已进入国内检测市场。在讨论了高加速寿命试验(HALT)基础上,介绍并讨论高加速应力筛选(HASS)和稽核(HASA)的各项要素和实验室要求。     

电子产品的高加速寿命试验

电子产品的使用者希望产品在工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障。制造者为了确保电子产品的可靠性,必须针对产品作一系列的可靠性试验。介绍了HALT试验的目的、优点及发展现状,通过实际的HALT试验阐述了试验剖而设计及被试验产品工作极限的确定方法,并给出试验结论,为同类产品的可靠性设计提供了依据。     

超高斯（分布）随机振动HALT试验剖面建立要点解析

本文介绍了超高斯（分布）随机振动HALT技术,对超高斯（分布）随机振动HALT试验剖面的建立提出了方法和建议,主要包括试验顺序的选择、应力强度的确定、步进量级的选择、驻留时间确定和试验停止原则等五方面,并总结了现场试验的要求和注意事项。     

深圳市计量质量检测院举办“LCD高加速应力（HALT/HASS）技术研讨会”

2009年9月24日,深圳市计量质量检测院举办“LCD高加速应力（HALT／HASS）技术研讨会”,广东地区110名企业代表参加了会议。     

HALT试验技术综述

HALT试验是产品设计研发初期发现新产品应力缺陷的有限而快速的试验方法.相对于一般振动试验,其可达到的频率范围较高,且可实现六自由度振动和快速温变的综合.相对于一般环境试验中的高低温试验,其温变速率快很多.鉴于此试验方法的优越性,HALT试验在电子产品设计、研发阶段中已被广泛使用.     

混合集成电路HALT和HASS技术应用研究

介绍了HALT和HASS技术的概念和内涵,探讨了混合集成电路HALT和HASS技术应用的基本原理以及具体的应用方法和流程。