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本文对机载电子设备可靠性试验的发展及应用情况进行了介绍,分析了高加速可靠性试验技术的基本原理。同时通过研究高加速可靠性试验的技术参数和建立高加速环境应力剖面的方法,提出了机载电子设备开展高加速可靠性试验技术及验证方法,可有效缩短机载电子设备技术迭代时间、加快提高机载电子设备可靠性水平的速度,节省研制周期及成本,具有较高的推广价值。 相似文献
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本文通过对某机载电子设备可靠性增长试验及应用中的失效分析,阐明了如何提高对占其失效比例最大的电子元器件的可靠度。 相似文献
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本文针对某伺服机构控制器电路板采用故障物理方法进行失效分析,然后在不同温度应力下开展该电子产品温升试验和热仿真,之后基于Coffin-Manson模型进行产品焊点疲劳寿命仿真并求解各元器件寿命分布,最后构建竞争失效模型进行电路板寿命预计。通过温度应力试验得到了关键元器件温升值在(23~31)℃范围内,基于CRAFE热仿真得到了产品各元器件温度,应用Coffin-Manson模型得到了元器件寿命分布,运用竞争失效方法计算了产品失效概率函数,评估了产品工作10年的可靠度为0.94,在可靠度指标为0.9时其工作寿命为12.11年。本文基于温度应力试验和热仿真,通过进行故障物理分析和元器件竞争失效分析有效评估了电子产品工作寿命,对其他类似电子产品可靠性分析提供了一定参考。 相似文献
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可靠性工程技术中的众多工作项目需要建立在失效机理的基础上。了解和应用失效机理是改进产品可靠性的核心工作之一,在产品可靠性工程中被广泛应用。本文澄清了相关的基本概念,并且分析了失效机理在产品可靠性预计、寿命评估、故障模式及失效机理分析、可靠性试验以及失效分析方面的应用。 相似文献
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加速寿命试验是预测产品可靠性的重要方法,在实践中得以广泛应用。本文简要分析加速寿命试验的原理,并探讨它在电子产品中的应用。 相似文献
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某电容器加速贮存寿命试验设计研究 总被引:1,自引:0,他引:1
加速贮存寿命试验设计是设计一个最优的试验指导方案.一个好的试验方案可以提高模型参数估计精度和寿命外推的准确性,可以缩短试验时间、提高试验效率.本文在探讨该电容器的失效机理分析的基础上,在从应力加载方式、应力类型、水平、参试样品、截尾方式、测试、判据等多方面开展试验方案的设计. 相似文献
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简要介绍了高可靠长寿命产品的特点、失效机理和退化失效模式,阐述可靠性强化试验工作思路和试验剖面选择的注意事项。通过试验证明,可靠性强化试验可以在短期内激发高可靠长寿命产品的潜在缺陷,还可以大幅缩短产品可靠性增长所需时间、节省试验费用。 相似文献
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首先陈述了贮存寿命加速试验的基本原理,介绍电磁阀的结构组成,分析了失效模式和失效机理后,采取恒定应力加速试验方法,然后运用极大似然估计和最小二乘法对数据进行处理,最后得出其贮存寿命等结论。 相似文献
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