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相似文献
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1.
谈谈高加速寿命试验   总被引:7,自引:0,他引:7  
高加速寿命试验(HALT)是一种新兴技术,它使用在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。本文介绍了HALT的优点,典型的HALT过程及HAST项目;对HAST项目中的温度步进应力,6自由度随机振动,快速温度变换,温度与振动综合试验等方法进行了详细描述。  相似文献   

2.
针对绝缘结构在实际使用过程中受到综合应力因素的影响的特点,提出了一种基于综合应力的绝缘结构可靠性评估方法,可以有效地指导绝缘结构加速寿命试验的设计和实施。首先通过对绝缘结构进行失效机理及应力分析,确定影响绝缘结构寿命的主要应力,选取适当的综合应力加速模型。其次,确定各加速应力水平,进行综合应力加速寿命试验方案的设计。最后,基于失效数据对绝缘结构进行可靠性评估。  相似文献   

3.
成熟的汽车企业已经将高加速环境应力试验引入装车电工电子设备的研发、试产和批量供货的管理中,其需求已进入国内检测市场。本文以已发布的车企文件为基础,介绍并讨论高加速寿命试验(HALT)的各项要素和实验室要求。高加速应力筛选(HASS)和稽核(HASA)另行拟文讨论。  相似文献   

4.
气锤驱动的高加速应力试验装置,能产生温度和非高斯随机振动应力,其中振动应力是由多个气锤作六自由度运动产生的。一般用来进行高温步进、低温步进、快速温度变化、振动、快速温变和振动复合试验。目前国家标准和校准规程中均无关于该试验装置的技术参数的校准方法。本文结合试验装置的技术特点,提出了几个关于温度和振动技术参数的测量方法,如:温度偏差、温度波动度、温度均匀度、温度过冲量、温度变化速率、均方根加速度、横向振动比、功率谱密度等。  相似文献   

5.
电子产品的使用者希望产品在工作寿命内尽可能少发生甚至不发生故障。制造者为了确保电子产品的可靠性,必须针对产品作一系列的可靠性试验。介绍了HALT试验的目的、优点及发展现状,通过实际的HALT试验阐述了试验剖而设计及被试验产品工作极限的确定方法,并给出试验结论,为同类产品的可靠性设计提供了依据。  相似文献   

6.
李劲  张蕊 《环境技术》2012,(3):5-10
本文论述了电子产品高加速应力筛选试验的流程和方法,包括高加速应力筛选试验剖面设计和筛选验证等,并将该试验方法在某机载惯导产品进行了应用。这一方法对于其他机载电子产品的高加速筛选工作有一定的指导意义。  相似文献   

7.
高加速应力筛选剖面验证技术分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
高加速应力筛选试验(HASS)技术是近年来不断发展起来的可靠性新技术,其工作原理、试验目的、应力要求等与传统的可靠性试验有所不同,是考核与提高产品质量与可靠性的强有力的工具。本文就HASS试验技术基本原理和环境应力与诱发的故障模式之间关系进行了简要分析,重点阐述了HASS试验技术的核心之一—筛选剖面图的验证技术,并对HASS剖面验证技术的特点、所需资源和其它的相关内容作了说明。  相似文献   

8.
朱建华 《环境技术》2009,27(2):31-34
高加速寿命应力试验(HALT),是一种通过施加阶梯强化应力于试品,达到快速发现产品潜在缺陷,操作设计边际及结构强度极限的试验方法,主要应用于产品研发设计阶段。由于该方法效果明显,目前已越来越多的电子电气产品制造商认可并推广使用,成为研发设计工程师提高产品可靠性的重要试验手段。本文简要介绍HALT试验的目的,并结合实际,探讨了HALT试验设备的关键性能指标。另外,基于日常实践经验,重点分析和讨论了HALT试验过程中应该关注的一些技术处置措施,从而帮助测试人员正确执行HALT。  相似文献   

9.
某电容器加速贮存寿命试验设计研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
吴鸿兵  林震 《环境技术》2007,25(5):17-21
加速贮存寿命试验设计是设计一个最优的试验指导方案.一个好的试验方案可以提高模型参数估计精度和寿命外推的准确性,可以缩短试验时间、提高试验效率.本文在探讨该电容器的失效机理分析的基础上,在从应力加载方式、应力类型、水平、参试样品、截尾方式、测试、判据等多方面开展试验方案的设计.  相似文献   

10.
高加速寿命试验(HALT)是一项新型可靠性强化试验技术,一般指产品在设计研发阶段,采用比产品技术规范更为严酷的应力,加速激发产品的缺陷并对之改善,从而达到提高产品可靠性指标的目的。本文重点阐述其理论模型、试验目的、试验设备以及试验方法,并结合一些产品工程上的实际应用数据统计,给相关试验需求者一些参考。  相似文献   

11.
韩彬 《环境技术》2014,(2):65-67
本文以标准GB/T 29309-2012为基础,以某款开关电源为例,对HALT试验设备、工作极限与破坏极限、试验步骤及设备运行中注意点等方面展开介绍,为电子产品可靠性测试提供相关探讨。  相似文献   

12.
HALT试验技术综述   总被引:3,自引:0,他引:3  
HALT试验是产品设计研发初期发现新产品应力缺陷的有限而快速的试验方法.相对于一般振动试验,其可达到的频率范围较高,且可实现六自由度振动和快速温变的综合.相对于一般环境试验中的高低温试验,其温变速率快很多.鉴于此试验方法的优越性,HALT试验在电子产品设计、研发阶段中已被广泛使用.  相似文献   

13.
混合集成电路HALT和HASS技术应用研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
夏俊生 《环境技术》2010,28(1):22-28
介绍了HALT和HASS技术的概念和内涵,探讨了混合集成电路HALT和HASS技术应用的基本原理以及具体的应用方法和流程。  相似文献   

14.
简要介绍了可靠性强化试验技术原理与特点,总结了其在平板电视电源模块研发阶段中的应用方法,着重阐述了试验过程和五个类型的试验剖面;引述了激发应力范围的统计学方法,并给出了部分产品应用实施可靠性强化试验技术的典型案例,说明其在激发暴露产品设计、工艺缺陷等方面的突出效果。  相似文献   

15.
环境应力筛选是电子产品生产的一个有效地工艺手段,掌握环境应力筛选的方法,确定合理的温度、振动等环境应力参数,可以使环境应力筛选达到事半功倍的效果。综合运用筛选过程中获得的数据,可以为产品的故障排除、性能设计、工艺水平、可靠性的提高提供有效依据。  相似文献   

16.
张灿文  张华 《环境技术》2012,(2):50-53,57
本文介绍了超高斯(分布)随机振动HALT技术,对超高斯(分布)随机振动HALT试验剖面的建立提出了方法和建议,主要包括试验顺序的选择、应力强度的确定、步进量级的选择、驻留时间确定和试验停止原则等五方面,并总结了现场试验的要求和注意事项。  相似文献   

17.
主要阐述了电子设备应用于不同场所,遇到的各种复杂的环境因素、;如高温、高湿、低温等,这些环境因素的存在将影响电子信息产品的可靠性,本文简要介绍了如何选用温湿度箱。  相似文献   

18.
文章针对GJB1032-1990<电子产品环境应力筛选方法>提供的环境应力筛选方法在实际应用中的筛选能力不足的问题,介绍了一种基于应力调查分析的优化方法,通过在加固计算机生产中的实际应用,证明此方法对提高产品缺陷筛选剔除率具有非常明显的作用.  相似文献   

19.
胡小弟 《环境技术》2005,23(1):8-12
综合环境应力可靠性试验系统是实施电子设备可靠性试验的重要技术手段,根据试验对象的试验技术要求编制试验设备系统配置及主要技术指标是关系试验设备能否完成试验任务的关键。正确合理地编制系统配置和技术指标无论于技术角度和经济角度都有着十分重要的意义。正确的配置设计和指标论证依托于对试验设备构成技术的深入研究和相关关系的准确把握。综合环境应力可靠性试验系统的配置设计和技术指标论证方法,对其他环境试验设备的选型论证也有一定的指导意义。  相似文献   

20.
基于新疆地区42个气象站点1971-2016年逐日温度数据资料,选取世界气象组织(WMO)推荐的10个极端温度指标,使用线性趋势法、克里金插值法和Mann-Kendall突变检验等方法,分析该地区极端温度指数在时间和空间上的变化规律.结果 表明:新疆地区1971-2016年间4个极端高温指数均呈现出明显的上升趋势,除极...  相似文献   

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