基于失效分析的功率MOSFET应用可靠性研究

功率MOSFET因良好的压控开关特性和低导通阻抗特点,在功率电子电路中应用广泛。该类器件对装配工艺及设计应用有较高要求,本文在对几例功率MOSFET器件失效进行分析的基础上,总结了影响器件应用可靠性的因素,给出了相应的控制措施。     

提高半导体可靠性的方法——失效分析

<正>2009年4月15日,国务院发布了《电子信息产业调整和振兴规划》,我国电子信息产业也随之进入了新一轮的高速发展通道。半导体作为电子元器件的关键与核心器件,在电子信息产业的升级中起着至关重要的作用。目前,半导体已广泛地应用于航空航天、兵工科技、工业通讯和民用产品等方面。在国防上,我们可以在歼十战斗机、     

电子产品的可靠性试验

"电子产品的可靠性试验"顾名思义为评价分析电子产品可靠性而进行的试验.其试验目的通常有以下几个方面:(1)在产品研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷,评价产品可靠性达到预期指标的情况;(2)生产阶段为监控生产过程提供信息;(3)对定型产品进行可靠性鉴定或验收;(4)暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理;(5)为改进产品可靠性,制定和改进可靠性试验方案,为用户选用产品提供依据.     

合成碳膜电位器失效的主要模式及提高其可靠性的方法

本文根据作者多年从事合成碳膜电位器设计、制造、试验及研究工作之体验,从工程技术角度对此类型电位器的失效模式作了较详细的阐述,对其中六种主要失效模式的失效机理进行了分析,并提出提高合成碳膜电位器可靠性的一些实用技术途径,供电位器生产厂和使用电位器之整机厂参考、借鉴.     

表贴电阻典型的失效模式及机理分析

针对表贴电阻典型的失效模式,选取了几个案例进行分析,通过磨抛制样,X射线检查,扫描电镜及能谱分析等手段,对各种失效模式,阐述了其失效机理,并有针对性提出了控制失效发生的具体措施。     

采用自然及加速方法的环境驱动失效机制评估新聚合物产品的可靠性

本文讲述了对新产品进行可靠性评估的方法,这些产品因为受到环境的影响而失效。本方法适用于有参考产品现场数据、参考产品加速老化数据,并了解由环境引起失效机理的情况。该方法利用可靠性原理和失效机械一模型来建立高精度的模型,然后用它来预测新产品的使用寿命。本方法已成功应用于两个实例：一个是采用化学与物理方法证明聚烯烃的现场数据与加速氙灯老化仪所测得的数据具有相关性;另一个是评估乙烯基产品及现场驱动失效的故障模式。所得出的数据结果表明了环境区域风险、整体新产品风险。及与现有参考产品的相对风险。