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以近两年来电视机高温可靠性试验中失效的实例为分析蓝本,侧重分析了电视机在高温可靠性试验中失效的几种关联,并提出提高电视机在高温试验中可靠性的方法。 相似文献
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半导体器件失效案例统计与综合分析 总被引:2,自引:0,他引:2
电子元器件是电子产品最基本的组成部分,而半导体器件通常又是关键与核心器件;半导体器件失效数占电子元器件总失效数的一半以上。本文针对半导体器件的失效案例进行筛选、汇总,按照失效类别、失效模式和失效原因进行分类统计,并对统计数据进行分析;其结果可以为从事元器件质量管理、元器件研制、采购和整机设计人员在元器件研制、采购、试验、选用和使用等全过程控制半导体器件失效提供重要的参考数据。 相似文献
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通过"三防"试验分析与案例,提高三防设计或工艺的科学性、合理性。本文阐述了湿热、盐雾、霉菌试验失效主要原因与案例,本文阐述了影响聚对二甲苯气相沉积涂敷,镀覆,液态涂料涂敷,应力筛选,密封等试验失效因素,从试验方法、工艺控制、材抖选择等诸多方面进行分析,探讨"避免"失效的措施。 相似文献
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通过对典型案例的介绍,分析了焊接工艺不当对元器件失效产生的影响。通过对焊接工艺过程中各种影响因素的分析,以及对各种失效模式总结,阐述了焊接工艺不当(包括焊接前,元器件的预处理不当),造成元器件失效的失效原因与机理,在此基础上,提出了有针对性的改进措施。 相似文献
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针对表贴电阻典型的失效模式,选取了几个案例进行分析,通过磨抛制样,X射线检查,扫描电镜及能谱分析等手段,对各种失效模式,阐述了其失效机理,并有针对性提出了控制失效发生的具体措施。 相似文献
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对几种电子设备密封失效的原因进行了分析,改进措施经试验验证有效。分析和试验结果表明:车载设备采用敞开式结构有利于空气流动,可有效避免交变湿热试验时设备内部产生积水;有浸渍要求的设备,其表面安装螺孔不宜采用涂胶密封方式;采用端面密封的设备,盖板必须具有足够的刚度才能保证橡胶密封圈压缩量在合理范围之内。 相似文献
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本文通过对汽车多媒体依据GB/T 29309-2012《电工电子产品加速应力试验规程高加速寿命试验导则》进行HALT试验,结合出现的各类问题的失效分析,系统的介绍了HALT试验的全过程,给出了HALT试验设计及分析的基本思路。 相似文献
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钽电解电容器常见的失效模式为短路、开路、电参数超差。本文通过介绍典型失效案例,对以上三种失效模式进行了系统的总结,对造成钽电解电容器失效的原因与机理进行了详细的阐述,在此基础上,有针对性的提出了避免钽电解电容器装机使用后失效的有效措施。 相似文献
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本文通过典型失效案例介绍,结合光耦器件结构及工艺制程的特点,分析了器件本身缺陷引起光耦失效的机理。另一方面,结合光耦应用电路的特点,对外部电应力引起光耦失效的原因也进行了详细阐述。 相似文献
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