共查询到18条相似文献,搜索用时 823 毫秒
1.
半导体器件失效案例统计与综合分析 总被引:2,自引:0,他引:2
电子元器件是电子产品最基本的组成部分,而半导体器件通常又是关键与核心器件;半导体器件失效数占电子元器件总失效数的一半以上。本文针对半导体器件的失效案例进行筛选、汇总,按照失效类别、失效模式和失效原因进行分类统计,并对统计数据进行分析;其结果可以为从事元器件质量管理、元器件研制、采购和整机设计人员在元器件研制、采购、试验、选用和使用等全过程控制半导体器件失效提供重要的参考数据。 相似文献
2.
钽电解电容器常见的失效模式为短路、开路、电参数超差。本文通过介绍典型失效案例,对以上三种失效模式进行了系统的总结,对造成钽电解电容器失效的原因与机理进行了详细的阐述,在此基础上,有针对性的提出了避免钽电解电容器装机使用后失效的有效措施。 相似文献
3.
针对表贴电阻典型的失效模式,选取了几个案例进行分析,通过磨抛制样,X射线检查,扫描电镜及能谱分析等手段,对各种失效模式,阐述了其失效机理,并有针对性提出了控制失效发生的具体措施。 相似文献
4.
本文通过典型失效案例介绍,结合光耦器件结构及工艺制程的特点,分析了器件本身缺陷引起光耦失效的机理。另一方面,结合光耦应用电路的特点,对外部电应力引起光耦失效的原因也进行了详细阐述。 相似文献
5.
电磁干扰环境下产品失效机理分析 总被引:3,自引:0,他引:3
论述了电磁干扰环境对产品所产生的影响,阐述了在此环境下产品的失效模式,分析了在电磁干扰环境应力下产品功能失效的原因,指出了产品一般都会受到电磁波感应耦合、核电磁脉冲、静电失效、雷电电磁脉冲等干扰的影响作用,并针对性地提出了对产品进行有效防护的方法。 相似文献
6.
本文主要针对信号线路交换网络设计中的失效问题展开讨论,对输出信号在传输网络中失效性进行了评估,根据失效评估在设备可靠性设计方面做了相应的考虑。 相似文献
7.
8.
通过"三防"试验分析与案例,提高三防设计或工艺的科学性、合理性。本文阐述了湿热、盐雾、霉菌试验失效主要原因与案例,本文阐述了影响聚对二甲苯气相沉积涂敷,镀覆,液态涂料涂敷,应力筛选,密封等试验失效因素,从试验方法、工艺控制、材抖选择等诸多方面进行分析,探讨"避免"失效的措施。 相似文献
9.
通过对典型案例的介绍,分析了焊接工艺不当对元器件失效产生的影响。通过对焊接工艺过程中各种影响因素的分析,以及对各种失效模式总结,阐述了焊接工艺不当(包括焊接前,元器件的预处理不当),造成元器件失效的失效原因与机理,在此基础上,提出了有针对性的改进措施。 相似文献
10.
本文从工程角度列出录音机机芯各种主要失效模式,逐项作了失效机理分析,并提出了提高机芯可靠性的一些具体方法。 相似文献
11.
12.
13.
TVS管是一种常见的浪涌抑制器件,但如果使用不当容易损坏。本文从大量的调查研究中,选取几个典型的TVS管失效案例,详细分析失效原因,并将这些原因进行总结,提出有效的整改办法。 相似文献
14.
15.
介绍LED产品常见的失效分析手段,主要包含外观检查、电性能测试、X-Ray透视检查、开封检查、金相切片分析、扫描电镜和能谱分析等手段,并结合实际案例对几种方法进行描述。 相似文献
16.
17.
可靠性工程技术中的众多工作项目需要建立在失效机理的基础上。了解和应用失效机理是改进产品可靠性的核心工作之一,在产品可靠性工程中被广泛应用。本文澄清了相关的基本概念,并且分析了失效机理在产品可靠性预计、寿命评估、故障模式及失效机理分析、可靠性试验以及失效分析方面的应用。 相似文献