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高加速应力试验及其与传统试验的比较 总被引:1,自引:1,他引:1
阐述了高加速应力试验(即高加速寿命试验和高加速应力筛选)的目的和用途,以及用于强化设计的基本过程,指出了高加速应力试验的应力多样性、高加速性和不能评估可靠性等特性。并就试验目的,试验属性,试验应力及其确定依据,试验方案和试验时间,以及追求的最终结果等方面与传统试验进行了全面的比较,凸显了其在提高产品环境适应性和可靠性方面的明显优势。 相似文献
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高加速应力筛选试验技术研究 总被引:3,自引:5,他引:3
简要介绍了高加速应力筛选试验技术的产生、发展及在国外的应用情况,在分析高加速应力筛选试验技术基本原理的基础上,研究了高加速应力筛选试验技术的核心——试验剖面图的建立方法.并对高加速应力筛选试验技术的特点及如何开展试验等作了相关分析,最后进行了总结和问题讨论。 相似文献
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对于一些高健壮水平的信息化电子设备,由于产品环境裕度很大,采用常规环境模拟试验技术很难验证出产品的环境适应性水平,也无法知道产品的环境健壮裕度。基于此,提出了一种高效率的用于环境适应性验证的加速应力试验技术,将当前环境适应性试验"通过或不通过"的符合性验证现状,发展到装备环境适应性水平的定量评估层次,来验证产品的环境裕度。从用于环境适应性验证的加速应力试验的理论出发,阐述加速应力试验的依据、前提、应力种类、方案设计等几方面内容,力争为改变我国在装备研制中根据标准和规范确定产品环境试验项目、试验条件的被动状态提供一点解决思路。 相似文献
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目的将光纤声光调制器产品缺陷激发为可被检测到的故障,找出失效模式,为建立失效机理库及提升产品可靠性提供依据。方法采用高加速寿命试验的方法,结合敏感应力分析结果,设计试验方案,并进行试验,快速将产品内部的设计和工艺缺陷激发出来,变成可检测到的故障。对故障产品进行失效分析,找出失效模式。结果本试验激发出5类故障,对故障进行隔离,选5类故障对应的故障产品进行失效分析。6#被试品未见异常,8#、12#、15#为内部电-声换能器机械开裂导致失效,11#为晶振内部引脚在振动过程中受到应力作用断裂,导致晶振无输出。结论统计出两类失效模式,一类为电-声换能器机械开裂、一类为晶振内部引脚在振动过程中受到应力作用断裂,为产品后期进一步分析失效机理、建立失效机理库并结合失效机理进行相应的可靠性提升及工艺优化提供了依据。 相似文献
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针对某型电路板高加速应力筛选剖面设计中耗费大量人力物力的实际情况,结合目前计算机辅助及仿真技术所具有的成本低、周期短、精度高等特点,将高加速应力筛选及计算机仿真技术融合,提出了运用计算机仿真手段来研究产品的高加速应力筛选剖面的方法及基本思路。对剩余有效寿命的预计、缺陷影响以及应力影响等方面进行了研究分析。从而在高加速应力筛选剖面设计信息量的扩充、成本的节省、周期的缩短等方面起到了一定的促进作用。 相似文献
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目的 解决Arrhenius模型无法估计湿度应力敏感产品和Peck模型试验时间较长的问题。方法 考虑温度应力和湿度应力对产品贮存寿命的综合影响,在产品激活能不变的假设下,将Arrhenius模型对产品激活能的估计和Peck模型对湿度应力参数的估计相结合,建立Arrhenius&Peck分段非线性加速寿命估计模型。基于此模型,在双应力恒加试验条件下,得到产品的寿命估计方程。结果 以弹上电子产品的恒定应力加速贮存试验为例,进行仿真分析,得到产品寿命的估计,并对比产品实际寿命。Arrhenius&Peck模型的寿命误差和失效率误差均控制在5%以内,准确度高于Arrhenius模型和Peck模型。结论 构建的Arrhenius&Peck分段非线性加速寿命模型可以充分利用温度和湿度条件下的试验数据,对温湿敏感产品的寿命估计有较好的应用效果,为导弹产品的寿命估计提供一种可选方法。 相似文献
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