大型复杂电子系统电子元器件选用与管理方法研究

电子元器件是组成电子系统的最小单元,电子元器件的选用与管理是电子系统设计中最关键的一步,也是系统质量和可靠性的基础。本文从电子元器件管理架构、电子元器件的优选以及进口电子元器件的选用控制等方面提出了一套大型复杂电子系统电子元器件选用与管理方法,以加强和规范系统电子元器件的管理和选用,提高大型复杂电子系统的质量和可靠性。     

元器件在冲击环境下的可靠性——试验、仿真与理论模型

据统计,武器型号在研制生产过程由元器件失效引发的质量问题时有发生。而大量元器件的使用失效由冲击环境造成,冲击对元器件的危害往往是致命的,引脚断裂,焊点脱落,器件腔体出现形变等等。因此型号在设计阶段必须考虑产品的冲击可靠性,比如产品级的冲击防护,类似保护箱,阻尼装置,吸能装置等,但这些产品级的防护不能完全保护元器件的可靠性。而近年来,电子元器件也朝着大规模,高集成化,小型化发展,新工艺,新材料也在不断应用,因此元器件在冲击环境下的可靠性保障工作也变得越来越有挑战性。     

提高电子元器件使用可靠性的方法

针对实际工作中元器件使用可靠性方面存在的问题．本文通过在实际工作的经验积累和技术研究总结,在电子元器件的选择与检测控制等方面,提出了提高电子元器件使用可靠性的方法。实践证明,这些方法可以直接应用于电子元器件的工程选择与检测控制。     

中国电科军用电子元器件可靠性保障中心正式成立

正1月6日,中国电科军用电子元器件可靠性保障中心成立大会在京召开。会议宣读了相关批复文件,明确了中国电科军用电子元器件可靠性保障中心的主要服务范围和主要人员组成,并向国基南方子集团授牌,标志着中国电科军用电子元器件可靠性保障中心正式成立。会议指出,军用电子元器件可靠性保障中心的成立意义重大,将有力推动我国电子元器件可靠性保障事业的进步发展,加速实现电子元器件自主创新目标。     

新研电子元器件应用验证方法探讨

针对当前国内新研电子元器件在装备中上装应用困难的现状,提出以装备研制阶段为依托,联合各方资源开展应用验证的方法,明确应用验证流程,结合装备研制试验、外场试验充分暴露新研电子元器件缺陷,并建立验证成果共享机制等,为提升装备用新研电子元器件应用验证能力和水平,提高新研电子元器件的可靠性及应用验证覆盖率提供了解决办法。     

机载电子设备可靠性失效分析

本文通过对某机载电子设备可靠性增长试验及应用中的失效分析,阐明了如何提高对占其失效比例最大的电子元器件的可靠度。     

浅析军用电子元器件可靠性强化试验的可行性

基于可靠性强化试验(RET)及其关键技术,对军用电子元器件RET可行性进行了分析。根据RET技术及其特点,分析了军用电子元器件RET的试验应力、试验剖面、测试夹具等关键技术,以阐述军用元器件RET的可行性,并且提出了对军用元器件进行RET的实施方案以及基本实施流程。     

低温环境下电子电气缓蚀剂对飞机电子元器件电性能的影响

为提高海洋环境下飞机电子元器件的耐腐蚀性能,使用电子电气缓蚀剂进行防护。采用温度试验箱模拟电子电气缓蚀剂的使用温度,通过测量不同试验温度下试样的接触电阻,计算试样接触电阻的变化率,评定低温环境下电子电气缓蚀剂对试样电性能的影响。结果表明95%的接触点接触电阻变化率不超过7%,温度越低,缓蚀剂对试样接触电阻的影响越大。     

Y78A 1/BD综合环境可靠性试验设备

Y78A—1/BD综合环境可靠性试验设备的研制成功填补了我国可靠性与环境试验设备的一项空白,亦即为我国航空电子设备的综合环境可靠性试验提供了现代化的先进试验设备。本产品可作电工电子产品综合环境可靠性试验和电子元器件高效应力筛选试验。     

中国电子学会可靠性分会第十五届学术年会第七届电子产品环境防护技术研讨会征文通知

<正>中国电子学会可靠性分会第十五届学术年会第七届电子产品环境防护技术研讨会定于2010年11月1～5日在张家界市武龙大酒店召开,特向广大可靠性与质量管理技术工作者和环境防护技术工作者征集学术论文。     

某模/数转换器低温下输出异常失效分析

近些年来,关于电子元器件的失效分析的研究正变得越来越重要.通过电子元器件的失效分析,不仅可以发现设计与工艺制造的问题,且从中获取的经验还可以在相似产品上得到应用,避免后续相同或相似问题再次发生,使得同类产品可靠性得以提升.本文是关于某10位模/数转换器输出异常的失效分析.该批产品在进行筛选以及质量一致性检验过程中未发现...     

会议信息

第二十届IPFA国际会议在苏州高新区举行7月17日,第二十届IPFA国际会议在高新区开幕。本次会议由IEEE南京分会主办,IEEE Reliability/CPMT/ED新加坡分会、苏州高新区、苏州市电子学会、电子元器件可靠性物理及其应用技术国家重点实验室协办。IEEE电子器件协会与IEEE可靠性协会提供技术支持。据悉,IPFA国际会议是全球半导体物理分析、失效     

电子元器件产业链亟需融合发展

<正>电子元器件是支撑信息技术产业发展的基石，也是保障产业链供应链安全稳定的关键，广泛应用于智能终端、汽车电子、5G通信、物联网以及航空航天、能源交通、军事装备等领域，其质量、水平和可靠性直接决定了电子系统和整机产品的性能。目前，我国已成为全球电子元器件第一大生产国。“大部分产品产销量均居全球领先地位，本土供应链总体完善，产品门类较为齐全，基本可覆盖现有市场需求。”中国电子信息产业发展研究院副院长王世江介绍，     

温湿度因素对电子元器件的影响研究

在人们的生活中,对各种电器设备的应用十分广泛。对不同类型的电器而言,电子元器件是十分重要的组成部分。因此,电子元器件的质量以及性能,也直接影响到各种电器的性能以及使用情况。但是,在实际应用过程中,多种因素会对电子元器件产生诸多影响,其中,温度以及湿度是十分重要的影响因素。文章对电子元器件与温湿度因素的内在关联进行简要的分析,进而结合设计实验研究,借助具体的实验,分析温湿度因素对电子元器件的影响。最终的实验结果显示,电子元器件性能与温度以及湿度因素之间存在着十分密切的联系,不同的湿度与温度条件下,会对电子元器件产生一定的影响。     

电子控制器整机产品热带海洋环境影响效应分析

为了研究电子控制器的热带海洋大气环境效应,选取西沙试验站对电子控制器整机产品开展棚下自然环境试验,试验过程中每天对电子控制器通电2个小时,通电过程中利用上位机实时监测电子控制器的功能性能,并采集控制器运行参数和控制器机箱内大气环境数据,定期对其宏观形貌进行检查并拍照记录。经过2年试验后,电子控制器外壳涂层出现脱落和起泡,机箱盖板屏蔽条出现多处断裂失效,机箱内电路板未出现腐蚀现象,电子控制器通电测试功能性能正常,现有防护措施可有效保护内部印制电路板与电子元器件,表现出良好的海洋环境适应性。     

某A/D转换器老化过程中端口异常失效分析

近年来,关于电子元器件的失效分析技术对于产品的生产和使用具有越来越重要的意义。作为模拟IC设计、生产单位,通过试验验证和分析找到失效原因,发现产品设计、测试、生产过程中存在的问题,以不断改进产品设计和生产水平,提高产品的可靠性。本文通过对某A/D转换器老化后端口异常进行分析,发现该产品在老化试验条件的选择存在问题,文中不仅给出失效原因,同时提出了改进措施。此次失效分析表明产品老化试验可靠性的评价以及风险评估的重要性。     

国产化元器件替代可靠性评价与验证技术研究

国产化元器件在设计、工艺、原料等方面同进口元器件存在差异性，国产化元器件直接引入与应用会对终端产品可靠性产生影响，因此，需要制定相应评价与验证的质量保障体系，以确保终端应用产品的安全可靠。本文通过对国产化元器件选型标准与供应商管理，国内外元器件性能与结构比对分析，板级应用层面的可靠性验证与评价等相关技术内容的研究，构建了一套系统的国产化元器件替代可靠性评价与验证体系，为国产化元器件的导入与应用评价提供指导。     

某中频控制器低温下输出异常的失效分析

近些年来,关于电子元器件的失效分析已逐渐发展成为一个专门的学科,作为专门的模拟集成电路设计、生产单位,在分析仪器、设备有限的条件下,通过失效分析发现产品设计、测试、以及生产制造过程中存在的问题,以不断改进产品的设计水平和制造工艺,提高产品的可靠性。通过对某中频控制器在用户处表现出来的低温下通断比异常的情况进行分析,发现该产品的设计存在的问题,文中不仅给出了失效机理,同时提出了改进措施。此次失效分析对于同类中频控制器的设计、提高其可靠性具有一定的借鉴意义。     

会议信息

正"2018智慧化元器件与可靠性大会"在京召开11月9日,"2018智慧化元器件与可靠性大会"在中国科学院学术会堂召开。大会由中国科学院空间应用工程与技术中心主办,赛思库承办,中国科学院国家空间科学中心、中国科学院微小卫星创新研究院、北京航空航天大学可靠性工程研究所、一带一路"可靠性与环     

电子元器件二次筛选及质量控制探讨

某单位就近年来开展电子元器件二次筛选及筛选中遇到的问题,对二次筛选的发展方向及如何控制电子元器件质量等方面问题进行了论述.