松散微粒子环境与PIND试验

本文略述了松散微粒子环境的重要性及其对产品可靠性的影响;略述了PIND试验的由来、试验条件、设备以及试验的效果。     

有关可靠性试验几个问题的探讨

作者在文中阐述了可靠性指标问题,认为在规定的失效数值下应把规定的可靠性指标与验证的可靠性指标统一起来。对试验应力问题应使试验能反映组合应力试验情况。可靠性试验可选择简化的试验方案,同样可正确地反映产品可靠性。     

静电对半导体器件的危害及防护措施

叙述静电的形成及其对半导器件的危害,介绍静电使半导体器件失效的几种类型,探讨器件耐受静电电压的能力,并提出一系列静电防护措施。     

有关温度试验的若干问题

论述国际温度试验标准化的概况以及温度试验的基本依据。     

美国独立试验室的发展

六十年代末期兴起的美国独立试验室,发展很快.其特点是专业化、高速度大容量、配备微处理机、并联试验以及采用高速的组件式试验设备.     

国外天然暴露试验简况

文章强调天然暴露试验的必要性,介绍国外一些天然暴露站,几种较新的露暴方式,并论述人工和天然两种试验结果的相关性问题。     

电子设备的环境应力筛选试验

随着试验技术的发展,筛选试验已从元器件级发展到模块级、部件级、系统级。实践证明,电子设备的环境应力筛选效果极佳。本文介绍国内外电子设备的环境应力筛选试验一些情况及推荐的试验条件,可供电子设备业参考。