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251.
局部阻抗测试技术在评定有机涂层环境失效中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
局部电化学阻抗谱技术(LEIS)是一种新型的电化学测试技术,可以通过测量有机涂层体系的局部阻抗,并在局部阻抗的变化、涂层电容的变化以及涂层的剥离程度之间建立起直接关系,弥补了传统电化学阻抗技术(EIS)只能反映所测面积整体平均信息的缺点,因而对评定有机涂层的环境失效有着重要意义.对该技术的测定原理、测定装置以及在评定有机涂层环境失效上的应用进行了介绍.  相似文献   
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