基于温度循环的ALT技术在电子产品中的应用

为了缩短ALT试验时间,从而提高其工程适用性,提出了一种针对电子产品,基于温度循环的加速寿命试验方法。该方法通过分析产品的失效模式确定激发应力,根据相似产品的历史经验数据建立现场使用年数与研制阶段试验时间之间的回归关系,选择加速因子,从而确定试验时间和试验剖面;这种方法可以在比常规ALT更短的时间内考查产品研制阶段可靠性水平,利用x2分布评估产品的可靠性指标平均寿命θ。最后,以电源产品的工程实例验证了其工程实用性。     

卫星综合电子系统环境试验方法研究

目的为适应卫星综合电子系统"货架产品化"的发展趋势,将传统的以单机级为主体的环境试验分解到功能模块级。方法分别建立综合电子单机和模块有限元模型,开展动力学、热力学等仿真分析,以模块上关键部位能否达到单机试验时的考核量级为判据,获得模块级试验时的输入条件。结果以随机振动试验为例,通过有限元分析,某综合电子单机若要达到鉴定级试验(单机输入量级为14.33g)考核,则功能模块上的力学输入分别为x向18.06g、y向15.07g、z向15.54g。以此为基础,在ACT2000振动台上开展了环境模拟试验验证,采集了模块上的最大响应。经分析,力学响应最大误差为6.31%,满足工程误差小于10%的要求。结论基于综合电子功能模块的环境试验,可以覆盖单机试验时的考核要求,有利于尽早发现产品缺陷,降低研制成本。