2A12铝合金微动疲劳全寿命预测方法研究

目的对于2A12铝合金,提出基于成核寿命和扩展寿命的微动疲劳全寿命预测方法。方法基于损伤力学法计算裂纹成核寿命,利用扩展有限元计算裂纹尖端应力强度因子,应用断裂力学计算裂纹扩展寿命,并对预测者和试验值进行比较。结果损伤力学法能考虑接触面应力三维度的作用来反映多轴状态作用,能有效模拟微动疲劳多轴行为。基于损伤力学法的微动疲劳全寿命预测模型能有效预测微动疲劳全寿命。由于微动作用,裂纹成核非常早,扩展寿命从试件的近表面开始,占全寿命的主要部分。结论考虑成核寿命和扩展寿命的微动疲劳全寿命分析是完善的,预测值与试验值比较吻合。     

海水淡化装置内舱碳钢防护涂层寿命预测研究

目的获得海水淡化装置内舱碳钢防护涂层的耐热老化寿命。方法通过调整设备的温度及压力,模拟低温多效蒸发器半浸区工作环境,进行为期20个月的浸泡加速试验。以涂层的附着力随老化时间的变化情况、涂层颜色变化情况、涂层浸泡前后微观形貌和阻抗值为评判依据,在老化经验公式的基础上进行外推计算,进行涂层热老化寿命预测。结果该涂料在该区域经过20个月的挂片试验,涂层表面均未出现起泡、锈蚀、开裂、脱落等失效现象;表面色差变化趋势相对稳定;干态附着力为10.9 MPa,经过20个月的测试,附着力为8.95 MPa;0.01 Hz低频阻抗(|Z|0.01 Hz)条件下,其电化学交流阻抗值由浸泡前的1.8×10^8Ω·cm^2下降为浸泡后的7.9×10^6Ω·cm^2。涂层阻抗的数量级虽有所下降,但仍然具有较高的阻抗值,具有较好的保护性能。经过老化经验公式进行外推计算,预测海水淡化装置内舱碳钢防护涂层的热老化寿命为13.33年。结论海水淡化装置内舱防护涂料具有长寿命热老化重防腐作用。     

国外弹药贮存寿命试验与评价技术概述

简述了国外弹药贮存寿命试验所用的自然环境长期贮存试验监测法和加速寿命试验方法的现状,对国外弹药寿命评价与预测所用的活化能法、凝胶含量法、傅里叶红外光谱分析法、动态粘弹分析法进行了分析,论述了弹药贮存寿命试验与评价技术的发展趋势。     

腐蚀坑对疲劳裂纹扩展的影响分析

利用显微镜测量了经过预腐蚀的6051铝合金材料的腐蚀坑三维形貌,分析了腐蚀坑截面形状,腐蚀坑近似为半椭球形。基于AFGROW软件分析疲劳裂纹扩展寿命,腐蚀坑深度与宽度对疲劳裂纹扩展寿命影响较大,随着腐蚀坑深宽比增加,疲劳裂纹扩展寿命趋于稳定,腐蚀坑的深度相对于宽度对裂纹扩展寿命影响更大。     

无锡南亚公司自主研制成功高加速温度变化试验箱

快速温度变化试验箱是环境试验、环境应力筛选、可靠性试验和高加速应力试验（高加速寿命试验和高加速应力筛选）都要用到的试验设备。这些试验中要求试验箱提供很高的温度变化速率，从3℃／min到60℃／min以上。民用飞机机载设备适航取证要进行的温度变化试验速率为3℃／min，5℃／min，和10℃／min，具体取决于设备在机上的位置。     

机电产品加速贮存寿命试验评估方法

目的研究长期贮存产品的贮存寿命评估方法。方法采用步进应力加速贮存寿命试验,对原始试验数据进行预处理后建立性能退化轨道,得到产品伪寿命值,然后对高加速应力水平下的贮存寿命分布进行假设检验及参数估计,最后根据加速方程外推到常应力水平下的贮存寿命分布。结果推测出正常贮存条件下的产品贮存寿命。结论该方法避免了复杂的性能退化模型分析和建模工作,能有效地对样本量少、无失效信息的贮存产品进行贮存寿命评估。     

基于KCC-PF的锂离子电池剩余使用寿命预测

目的 针对传统粒子滤波(PF)算法应用于锂电池剩余使用寿命(RUL)预测时准确性低的问题,将肯德尔秩次相关系数(KCC)引入传统PF的重采样过程,改善粒子匮乏问题,提出一种基于KCC-PF的锂电池RUL预测方法.方法 首先建立电池容量衰减模型,验证模型的准确性和有效性,并确定模型初始参数,利用KCC-PF算法循环更新模...     

某弹用硅橡胶密封材料贮存寿命预测

通过对某弹用硅橡胶密封材料的加速老化试验,建立了该材料在贮存温度下的压缩永久变形与贮存时间的老化动力学方程,预测了25℃条件下硅橡胶密封材料的贮存寿命。预测结果可作为评估某弹用硅橡胶密封材料制品贮存寿命的参考依据。     

引信寿命试验失效时间的检测研究

依据引信在贮存状态下的失效特点,建立了在引信寿命试验中失效时间分布的数学模型,并以某引信为研究对象进行了试验,利用迭代估计方法,对试验数据进行了分析,得到了引信寿命试验的失效估计时间。     

HALT试验技术综述

HALT试验是产品设计研发初期发现新产品应力缺陷的有限而快速的试验方法.相对于一般振动试验,其可达到的频率范围较高,且可实现六自由度振动和快速温变的综合.相对于一般环境试验中的高低温试验,其温变速率快很多.鉴于此试验方法的优越性,HALT试验在电子产品设计、研发阶段中已被广泛使用.