液压金属打包机的液压传动（七）

九、液压金属打包机液压系统图例在了解了液压传动系统中的各种元件的结构、工作原理后,再来了解机器的液压系统(即原理),判别液压系统中常出现的故障就比较容易了.识别和看懂一张液压原理图,一是要对图形符号的熟悉,二是要结合原理图上的动作顺序表;再者,对于半自动、自动类型的机器,还要配以电器或其它型式的控制和发讯装置,按工作程序,逐条油路的学习.下面介绍宜昌机床工业公司生产的几种金属打包机的液压系统图.其中包括作为本文典型介绍的YD81-100型打包机.至于老机型YC81B-100型打包机,其液压系统与YD81100型的基本一致,只是前者用电接点压力表,后者用的压力继电器,就不单独介绍了.1、YD81-100型金属打包机液压系统本机液压系统是由高、低压油泵和安装在通路体上的多种液压阀以及主缸、侧缸、推动缸、辅助缸、锁紧缸组成.通过管路和三块通路     

乳化液膜处理废水中某些金属与萃取剂体系的平衡模型

用萃取法从废水中将金属回收运比用沉淀法其沉淀分出为好，在萃取法中，乳化液膜萃取要比受平衡限制的溶剂萃取更加有效，可用于重金属含量更低的废水处理场合。本研究的成果是提供用于乳化液膜方程中的萃取剂与Ｃｕ，Ｎｉ，Ｚｎ间的二元平均数据，建立了综合水相非理想状态与水相离子所有反应在内的先导性模型，成功地进行了水相中Ｃｕ，Ｎｉ和Ｚｎ的乳化液膜萃取，同时对混合速度，解析剂浓度及萃取剂浓度等各种参数对萃取过程的曩     

公交行业金属清洗废液处理工艺研究

清洗废液中含有各种形态的油份，污泥悬浮物及表面活性剂。经预处理及一级处理后，ＣＯＤ总去除率９０％，浊度，油份总去除率９５％以上，清洗液可循环回用。     

用正交设计法选择原子吸收测定的最佳工作条件

用正交设计法选择原子吸收测定的最佳工作条件谢采文（沈阳市沈河区环保监测站）目前，用原子吸收方法对样品中的几十种金属元素进行直接测定，已成为各分析领域中方便、快速的标准分析方法．要想获得准确可靠的结果，必须做好两部分工作：一是样品的前处理，二是将原子吸...     

微囊藻毒素的极谱测定法

建立了微囊藻毒素的一种新的测定方法.在Ni2 -硼砂为支持电解质的体系中,微囊藻毒素-RR在-1.55V产生一个极谱波.在此实验条件下,微囊藻毒素在1.50～8.00mg/L浓度范围内,极谱波高与微囊藻毒素浓度有良好的线性关系,线性相关系数为0.998,检测限为0.07mg/L.同时对测定条件进行了研究,并探讨了极谱电流的性质,认为该极谱波是一个催化氢波;常见无机物和有机物不干扰本法测定,具有良好的选择性.该方法用于实际水样测定,获得了满意结果.     

硒,锌和汞等金属对大鼠肝细胞的联合作用

采用大鼠淳离肝细胞，以细胞半数中毒浓度（ＴＣ５０）细胞培养上清液山梨醇脱氢酶（ＳＤＨ）、谷丙转氨酶（ＧＰＴ）活性和肝细胞还原型谷胱甘肽（ＧＳＨ）作为观察指标，对硒和锌与镉、汞、铅、铜、铬、锑、砷七种金属人合物的联合作用进行了研究。结果表明，硒和锌对肝细胞毒性较小，而汞、镉、铅则对肝细毒性较大。上清液中的细胞内生化指标是较为敏感的毒性指标。     

实验室常见废弃物的处理

本文论述了含汞等七类实验室常见废弃物的处理方法，还介绍了六种有机溶剂和三种贵重金属的回收与提纯，指出今后实验室必须加强对实验室废弃物的处理，做到防患于未然，杜绝污染事故的发生     

金属有机骨架材料MOF-5利用C3H6选择性催化还原NO的研究

采用溶剂热法在不同温度（120、150、180℃）、不同时间（12、24、48 h）条件下制备MOF-5催化剂,利用热重分析仪（TG）、X射线衍射仪（XRD）、傅立叶红外光谱仪（FT-IR）对其进行表征,研究不同条件下MOF-5样品的水热稳定性及特征官能团、化学键等指标.结果表明,利用溶剂热法制备的MOF-5样品稳定性良好,390℃结构开始坍塌.对比FT-IR、XRD等表征结果,选择图线形状最好、出峰位置最多的120℃、24 h条件下的MOF-5样品作为载体,对其进行了Cu的负载,负载量依次为1%、3%、5%.根据TG曲线,选择在MOF-5维持稳定结构、同时与尾气排放环境中的温度较为接近的350℃作为反应温度,利用傅立叶原位红外技术考察不同负载量的Cu-MOF-5在不同温度条件下对NO吸附能力大小、吸附过程中间物的变化情况,初步研究以C₃H₆作为还原剂时的富氧HC-SCR反应的机理.根据原位红外反应结果看出,NO₃^-、—CNO、—CN是重要的中间产物,且以3% Cu负载量的催化剂中间产物变化最为丰富,催化效果最优.     

平面型浮栅Flash单粒子效应研究进展

Flash在商用半导体领域及航天领域均具有广泛的应用。本文针对Flash芯片的外围电路和浮栅存储阵列分别展开单粒子效应研究的讨论。结论是Flash的单粒子效应与芯片结构有关,辐照束流作用在芯片位置不同,会产生不同的错误模式。