垃圾焚烧飞灰处理处置研究进展

针对作为危险废物的垃圾焚烧飞灰,介绍了近年来国内外对其进行处理处置的研究情况.飞灰的固化/稳定化处理主要从水泥(沥青)固化、熔融固化及化学药剂固化几方面进行论述,飞灰中重金属的提取主要从酸碱浸提、生物浸提、螯合剂浸提及电渗析法提取几方面进行论述.     

Profibus-DP现场总线在袋式除尘控制系统中的应用

简要介绍Profibus-DP现场总线技术和采用Profibus-DP现场总线技术的袋式除尘自动控制系统,介绍了采用Profibus-DP现场总线技术的袋式除尘自动控制系统网络结构和系统部件,包括主控制站、上位监控计算机HMI和除尘控制系统各远程I/O站,通过具体工程说明了Profibus-DP现场总线技术在袋式除尘自动控制系统中的应用.     

土壤和河流沉积物中六六六和滴滴涕残留的测定

采用密闭微波提取、超声波提取、索氏提取对土壤和河流沉积物进行前处理,提取液经弗罗里硅土柱净化或浓硫酸净化.通过回收率实验和精密度实验对三种提取方法和两种净化方法进行比较,建立了微波提取土壤和河流沉积物中六六六和滴滴涕,浓硫酸净化,气相色谱一质谱测定的分析方法,方法回收率在84%～110%之间,精密度(RSD)在2.8%～9.9%之间.采用该方法对阜阳市废弃农药厂周围的土壤和河流沉积物中六六六和滴滴涕进行了监测.     

固相萃取- GC/MS法测定水中有机氯农药

建立了固相萃取-气相色谱／质谱联用测定水中痕量六六六、滴滴涕和环氧七氯的方法。采用C18固相萃取柱富集水样,二氯甲烷／丙酮混合溶剂洗脱,加入菲-d10作为内标,利用气相色谱／质谱联用仪选择离子监测模式检测,内标法定量,定性、定量准确,线性响应良好,干扰小,按采样1 L计算,方法检出限为4．26ng／L～19、2ng／L,RSD在0、4％-6、3％之间,平均加标回收率在77．7％～118％之间,实际样品测定结果表明方法能满足环境水体中痕量有机氯农药的监测要求。     

G C/MS法测定环境空气中痕量POPs类有机氯农药及降解产物

采用快速溶剂萃取-氟罗里硅土柱净化-气相色谱/质谱联用法测定环境空气中POPs类有机氯农药及其降解产物.艾氏剂、狄氏剂、异狄氏剂、六六六、滴滴涕,七氯、氯丹、灭蚁灵及其降解产物的检出限为2.0 ng～4.6 ng,空白加标回收率为62.1%～118%,RSD为6.8%～15.2%.     

固相萃取- GC/MS法测定水中邻苯二甲酸酯类

采用固相萃取-GC／MS法测定水中6种邻苯二甲酸酯类有机污染物,比较了不同固相萃取柱对萃取效果的影响,优化了水样pH值、水样流量、穿透体积、洗脱溶剂、洗脱剂体积、洗脱流量等萃取条件。方法在0．050μg/L-800μg/L范围内线性良好,检出限为0．008μg/L～0．03μg／L,标准溶液测定的RSD≤10．5％,实际水样加标回收率为80．0％-100％。     

高空核试验放射性烟云扩散的数值模拟研究

针对核试验期间的放射性烟云扩散,采用RAMS/CFORSⅡ模式,通过模拟两次高空核试验过程,研究烟云的空间分布、传输态势和地面沉降,模拟结果基本符合实际观测趋势.同时模拟得到了一些空爆核试验烟云在对流层和平流层中下层的传输规律.在空爆烟云的长距离传输中,主烟云受平流层西风急流影响明显,最快在爆后19 h东移出境;在西风急流之上和对流层中,传输速度明显减小,烟云的扩散和沉降维持了3 d以上.对流层中低层的天气系统对空爆烟云的近地面沉降有重要影响,较强的低压系统造成的地面沉降区域较小,接近均压场的天气形势造成的沉降区域较大,约比前者大1倍.较大的粒子主要在爆后前两天沉降在中国西部地区,东部以小粒子沉降为主,出现在第3 d.小粒子的放射性很小,日沉降量在10-2～101 Bq/m2之间,与天然放射性本底值相当.     

EN1150非职业高可视性警示服的要求

非职业高可视性警示服适用于非职业用途。它是为保护成年人和未成年人的自身安全,达到从视觉上起到警示作用而穿用的,不同于交警、交通协管、养路工等法律法规规定必需穿用的职业高可视性警示服。EN1150是欧盟关于非职业高可视性警示服的标准,其相关技术条款对该产品的设计、面料的技术要求、标签等都做了详细的规定．也是对89／686／EEC指令的具体支持。     

工伤赔偿标准过低的协议无效

一、案情 原告：泰州某公司 被告：周某 2003年初,被告至原告处工作,2004年12月27日,被告在工作过程中受伤。2005年2月3日,原、被告达成协议,约定被告受伤住院期间,所有医疗费用13470元由原告负担,被告治疗出院后在休养期间所发生的费用及后续治疗费用等,由原告承担9500元：被告致残损失,原告方不再承担任何责任。     

1/f噪声源与其在半导体器件可靠性评估中的应用

1／f噪声,由于其能够反映器件的质量与可靠性参数,其研究受到重视。本文首先较为系统地介绍了1／f噪声源两种较为成熟的理论：迁移率涨落模型和载流子涨落模型,最后介绍了几个1／f噪声与半导体器件参数漂移相关的实例。