土壤中痕量Z_n、C_u、N_i、C_r、P_b的X射线荧光光谱测定

用粉末压片法以散射线为内标,克服基体效应,对土壤中痕量Zn、Cu、Ni、Cr、Pb直接进行测定,在置信度为95％时,其检测下限可达5～10PPm,相对标准偏差为3.5～15％,重现性好,与原子吸收法对照,得到了基本一致的测量结果。此法样品勿需前处理,简单,快速,是一个精度较好的分析方法。