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发光二极管(Light Emitting Diodes,LEDs)由于具有长寿命、高能量转换效率、环境友好的特点而成为当今最受欢迎的照明解决方案之一,广泛应于显示屏、通讯、医疗器件以及普通照明产业。LED结构类似于半导体器件,但是由于其在性能、材料以及界面间的差异,又使得其具有特殊的失效模式和失效机理。本文针对LED常见失效机理和机理进行了讨论和分析,对应用可靠性给出了相关建议。
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热阻是衡量半导体器件可靠性的重要参数。详细介绍了采用电学冷却法对半导体器件进行热阻测试时噪声的补偿修正原理。介绍了测试中存在的常规噪声和一些特殊噪声形态的区别。并针对特殊噪声形态的不同补偿修正方法进行了对比分析,结合热传导规律给出了合理的修正方法,进而获得更为准确且更具有应用性和指导性的热特性测试结果。
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