基于Bayes的电子元件高温贮存试验方法研究

将工厂试验数据作为先验信息,应用Bayes方法确定电子元件高温贮存试验的试样数量,其结果明显少于GJB 345A—2005中规定的试样数量。基于不同试验结果,通过构建寿命模型和确定先验分布,分别得到了电子元件的寿命分布和失效概率的Bayes估计。