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强电磁环境下电子元器件效应实验研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
强电磁环境易于损毁电子系统,而电子系统的损毁取决于薄弱环节,获取电子元器件敏感值,可为分析系统的抗毁性提供必要参考数据。介绍了强电磁环境的特性,强电磁环境下电子元器件效应,着重阐述了电子元器件效应实验。  相似文献   
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