有关可靠性增长试验几个问题的探讨

本文论述进行可靠性增长试验的意义,如何理解通过筛选和通过改进设计两种情况下的可靠性增长,认为正式的可靠性增长试验应在样机完成环境试验之后就开始进行.并举例说明了可靠性增长率α值、增长曲线的起始点和各试验阶段的MTBF值的选定、计算问题.     

美国联邦标准209B进行修订

为控制生产区域的尘粒子污染,1962年秋天,受美国空、陆军的委托,桑地亚公司承担起草美国联邦标准209的任务.1963年2月,在该公司所在地召开有150人参加的讨论会,广泛征求意见,于1963年12月正式出版了FED—STD—209.     

环境应力筛选技术浅谈

本文简述了环境应力筛选技术的发展简史及应用情况的调查,以国内某设备为例,介绍了残存缺陷与可靠性的相互关系以及对应力筛选有关问题进行研讨,希国内同行共同讨论,以促进这门技术的发展。     

环境试验的简短回顾

今年正好是国际上环境试验工作开始的七十周年,环境试验从简单到复杂,从低级到高级,从单项到综合,推动了各种新技术的应用。本文简短地回顾国内外环境试验方法与设备的发展简况,并展望与预测今后的发展,供读者参考。     

电工电子产品运输和贮存可靠性

本文叙述了电工电子产品的运输、贮存环境条件及试验方法,列举了若干产品的失效率,着重叙述提高运输、贮存可靠性的主要措施。     

美军2000年环境应力筛选试验要求

1986年1月,美国海、陆、空三军分别制订了2000年电子产品可靠性发展规划,要求新一代的电子设备的MTBF比老产品要提高1倍(即从1986年的平均1000小时提高到2000小时),MTTR平均降低一半(即从1986年的30分钟降低到15分钟),要求各类元器件的不良品率从1986年的1000PPm下降到100PPm.同时提出海、陆、空三军最低限     

人—产品可靠性不可忽略的一种环境因素

本文较系统地阐述人对产品可靠性的影响,并叙述了各类环境因素对人和进而对产品可靠性的影响,用充实的数据说明人对产品可靠性的影响是重要的和不可忽略的。     

净化环境对集成电路成品率的影响

净化技术是集成电路的重要工艺,如净化等级达不到要求,集成电路的成品率则会很低或甚至等于零。我国集成电路的集成度上升缓慢的原因之一是净化水平不高。本文初步分析净化问题对集成电路成品率的影响,并介绍国内外净化技术水平。