| 基于失效分析的功率MOSFET应用可靠性研究 |
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| 引用本文： | 唐万军,张世莉.基于失效分析的功率MOSFET应用可靠性研究[J].环境技术,2020(1):57-59,80. |
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| 作者姓名： | 唐万军 张世莉 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060,中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060 |
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| 摘 要： | 功率MOSFET因良好的压控开关特性和低导通阻抗特点,在功率电子电路中应用广泛。该类器件对装配工艺及设计应用有较高要求,本文在对几例功率MOSFET器件失效进行分析的基础上,总结了影响器件应用可靠性的因素,给出了相应的控制措施。
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| 关 键 词： | 失效分析 MOSFET 可靠性 |
Research on Application Reliability of Power MOSFET Based on Failure Analysis |
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| TANG Wan-jun,ZHANG Shi-li.Research on Application Reliability of Power MOSFET Based on Failure Analysis[J].Environmental Technology,2020(1):57-59,80. |
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| Authors: | TANG Wan-jun ZHANG Shi-li |
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